特許

J-GLOBAL ID：200903035647329121

画素欠陥補正装置

発明者： 松本 恵三 ,  小林 隆宏 ,  人見 寿一
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 小鍜治 明 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-148812
公開番号（公開出願番号）：特開平7-007675
出願日： 1993年06月21日
公開日（公表日）： 1995年01月10日
要約：

【要約】【目的】 CCD等の固体撮像素子を用いる撮像装置に使用される画素欠陥補正装置において、キズが高輝度信号部にある場合、画素欠陥の検出出力が大きく低下するという問題を解決し、高輝度信号部であっても本来の信号と画素欠陥を正確に区別し、検出補正を行い、良好な画像を得る。【構成】 検出回路4は、注目画素とその前後、およびさらにその前後の計5画素の画素データyn-1,yn、yn+1を抽出し、これらの画素データに対し、加算器、比較回路を用い突出量を演算して、判定を行う。この際、しきい値制御回路3は突出量を判定するしきい値を周辺画素の輝度レベルに応じて制御し、検出回路4が画素欠陥を判定し検出信号を出力し、補正回路5に補正信号を出力する。

請求項（抜粋）：

固体撮像素子と、固体撮像素子から読み出された各画素の値をサンプリングするサンプリング回路と、前記サンプリング出力より、しきい値を作成するしきい値制御回路と、前記サンプリング出力と前記しきい値より前記サンプリング出力が画素欠陥かどうか検出する検出回路と、前記検出出力により、前記サンプリング出力の画素欠陥部分を補正する補正回路とを備えたことを特徴とする画素欠陥補正装置。

IPC (2件)：

H04N 5/335 ,  H04N 5/217

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開昭60-148287
  
• 特開平4-345383
  
• 固体撮像素子の画素欠陥測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-287470   出願人：松下電器産業株式会社
• 固体撮像素子の欠陥画素検出回路
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-062101   出願人：ソニー株式会社