特許

J-GLOBAL ID：200903036064344412

X線異物検査装置およびX線異物検査装置のための判定用パラメータ設定装置

発明者： 政木 俊道
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (2件)： 喜多 俊文 ,  江口 裕之
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-316815
公開番号（公開出願番号）：特開2005-099033
出願日： 2004年10月29日
公開日（公表日）： 2005年04月14日
要約：

【課題】 実際に異物混入サンプルを作成することなく、異物の混入の有無を判定するためのパラメータを最適に設定することができ、また、経時的に物性等が変化する物品についても事前の調整・検証を容易に行えるようにする。【解決手段】 測定または計算で求めた複数種の異物パターンを記憶手段57に記憶しておき、X線検出器2におり撮像した異物の存在しない検査対象物WのX線透視像に、記憶手段57に記憶している複数種の異物パターンのうちの任意のものを選択的に画像合成して異物が混入している検査対象物のX線透視像と同等の画像を得て、その合成画像を用いて判定用パラメータを設定する。これにより実際の異物混入サンプルを用意することなく、かつ、X線透視像の撮像時以外においては検査対象物Wをも不要とし判定用パラメータの設定に要する時間を短縮化するとともに、経時的に物性等が変化する物品でも容易に事前の調整検証を可能とする。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

互いに対向配置されたX線源とX線検出器の間に、搬送手段により検査対象物を搬送しつつX線を照射して得られる当該検査対象物のX線透視像を用いた画像処理により、検査対象物中の異物の有無を、設定手段によりあらかじめ設定されている判定用パラメータを用いて判定する画像処理手段を備えたX線異物検査装置において、 異物パターン像を生成する生成手段と、上記X線検出器により撮像した異物の存在しない検査対象物のX線透視像に、上記生成手段によって生成された異物パターン像を合成する画像合成手段を備え、その合成された画像を用いて、上記設定手段により判定用パラメータを設定し得るように構成されていることを特徴とするX線異物検査装置。

IPC (2件)：

G01N23/04 ,  G01V5/00

FI (2件)：

G01N23/04 ,  G01V5/00 A

Fターム (21件)：

2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA02 ,  2G001DA08 ,  2G001DA09 ,  2G001FA01 ,  2G001FA02 ,  2G001FA06 ,  2G001GA04 ,  2G001GA05 ,  2G001HA07 ,  2G001HA13 ,  2G001JA09 ,  2G001JA16 ,  2G001KA05 ,  2G001LA01 ,  2G001PA03 ,  2G001PA11 ,  2G001QA02 ,  2G001SA10

引用特許：

出願人引用 (1件)

• X線検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-097162   出願人：株式会社島津製作所, 株式会社キリンテクノシステム