特許

J-GLOBAL ID：200903036560424604

分光分析計

発明者： 林 尚典 ,  南光 智昭
出願人/特許権者： 横河電機株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-260751
公開番号（公開出願番号）：特開2001-083010
出願日： 1999年09月14日
公開日（公表日）： 2001年03月30日
要約：

【要約】【課題】 サンプル光を直接被測定物へ導くオープンビーム方式などへ対応することができ、脱着を簡単な構造として波長精度を確保した分光分析計を提供する。【解決手段】 ケースから出射する測定光をサンプルに照射してその透過または、反射光のスペクトルを測定し、そのスペクトルを元にサンプルの性状値を求める分光分析計において、測定光となる干渉光をケースから取出すに際しては、集光レンズ系とファイバアダプタを一体としたコネクタユニットを介して取出すように構成し、また、コネクタユニットを着脱自在とした。

請求項（抜粋）：

ケースから出射する測定光をサンプルに照射してその透過または反射光のスペクトルを測定し、または、そのスペクトルを元にサンプルの性状値を求める分光分析計において、前記測定光となる干渉光を前記ケースから取出すに際しては、集光レンズ系とファイバアダプタを一体としたコネクタユニットを介して取出すように構成したことを特徴とする分光分析計。

IPC (2件)：

G01J 3/42 ,  G01J 3/45

FI (2件)：

G01J 3/42 Z ,  G01J 3/45

Fターム (6件)：

2G020AA03 ,  2G020CA02 ,  2G020CB24 ,  2G020CB42 ,  2G020CB54 ,  2G020CC22

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 分光分析計
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-105575   出願人：横河電機株式会社
• 分光分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-268234   出願人：株式会社島津製作所
• 屈折率測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-172385   出願人：松下電器産業株式会社