特許
J-GLOBAL ID：200903036707143673

におい分布測定方法並びに装置、及びにおい発生源特定装置

発明者：
青山 佳弘

青山 佳弘 について

, 
赤丸 久光

赤丸 久光 について


出願人/特許権者：
株式会社島津製作所

株式会社島津製作所 について


代理人 (1件)： 小林 良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-196112
公開番号（公開出願番号）：特開2005-030909
出願日： 2003年07月11日
公開日（公表日）： 2005年02月03日
要約：
【課題】複数のにおいの混じった空間におけるにおい分布を容易に測定する。【解決手段】におい成分に対して応答特性の異なる複数のにおいセンサを備えるセンサユニット2を枠体3の所定位置に取り付けた測定ユニット1を測定対象空間内に設置する。3次元状に配置された各センサユニット2では同時に測定が行われ、各においセンサで得られたデータに基づいてセンサユニット2の設置位置におけるにおいの強度とにおいの質(種類)との情報が求められ、これを集約して、においの質の空間内分布やにおい強度の空間分布などを示す表示が表示画面上になされる。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
それぞれ異なる応答特性を有する複数のセンサを1組としたセンサユニットを測定対象である空間内にn(n=1〜3の整数)次元的に複数組、配置し、各センサユニットの複数のセンサからそれぞれ得られる検出信号に基づいてそのセンサユニットの設置位置におけるにおいの強度及び/又は質に関連した情報を算出し、前記各センサユニットでそれぞれ算出された前記情報に基づいて、前記センサユニットが配置された空間におけるにおいの強度及び/又は質のn次元分布を表現する情報を求めることを特徴とするにおい分布測定方法。
IPC (4件)：
G01N27/12 ,  G01N5/02 ,  G01N27/00 ,  G01N27/04
FI (6件)：
G01N27/12 A ,  G01N27/12 C ,  G01N27/12 D ,  G01N5/02 A ,  G01N27/00 K ,  G01N27/04 P
Fターム (31件)：
2G046AA01 ,  2G046AA18 ,  2G046AA21 ,  2G046BA08 ,  2G046BA09 ,  2G046BJ03 ,  2G046DC04 ,  2G046DC14 ,  2G046DC16 ,  2G046DC17 ,  2G046DC18 ,  2G046EB01 ,  2G046FA01 ,  2G046FB02 ,  2G060AA01 ,  2G060AB15 ,  2G060AB18 ,  2G060AB26 ,  2G060AE19 ,  2G060AF07 ,  2G060BA01 ,  2G060BB02 ,  2G060BB09 ,  2G060BB10 ,  2G060HC07 ,  2G060HC10 ,  2G060HC13 ,  2G060HC19 ,  2G060HC21 ,  2G060HD03 ,  2G060KA01
引用特許：
審査官引用 (5件)
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