特許
J-GLOBAL ID：200903036936878504
多接合型光電変換素子の特性測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-334243
公開番号（公開出願番号）：特開2006-147755
出願日： 2004年11月18日
公開日（公表日）： 2006年06月08日
要約：
【課題】 製造ラインで製造された構成する要素セルの相対分光感度に変動を有する一群の多接合太陽電池の基準状態での光電変換特性を正確に測定する方法を提供することである。【解決手段】 複数の要素セルを積層した多接合型光電変換素子からなる試験セルの基準状態での出力特性を近似太陽光光源下で測定する多接合光電変換素子試験セルの特性測定方法であって、前記試験セルと同等の構成を有する複数の基準セルの基準状態での特性である基準特性を取得する工程、前記複数の基準セルの基準特性が得られるように前記近似太陽光光源の条件を設定する工程、前記条件設定後の前記近似太陽光光源下で前記試験セルの出力特性を測定する工程を含むことを特徴とする多接合光電変換素子試験セルの特性測定方法とすることである。【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
複数の要素セルを積層した多接合型光電変換素子からなる試験セルの基準状態での出力特性を近似太陽光光源下で測定する多接合光電変換素子試験セルの特性測定方法であって、
前記試験セルと同等の構成を有する複数の基準セルの基準状態での特性である基準特性を取得する工程、
前記複数の基準セルの基準特性が得られるように前記近似太陽光光源の条件を設定する工程、
前記条件設定後の前記近似太陽光光源下で前記試験セルの出力特性を測定する工程を含むことを特徴とする多接合光電変換素子試験セルの特性測定方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (3件)：
5F051AA05
, 5F051BA14
, 5F051KA09
