減衰特性測定装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：長谷川芳樹 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-223628
公開番号（公開出願番号）：特開平8-086753
出願日： 1994年09月19日
公開日（公表日）： 1996年04月02日
要約：

【要約】【目的】簡単な構成により広い周波数領域で用いることのできる螢光サンプル等の減衰時間を高精度に測定できる減衰特性測定装置を提供する。【構成】送光部100から出力された強度変調された励起光が測定対象体900に照射され、散乱光あるいは反応光を波長選択器200を介して受光部300で検出する。受光部300は、供給された変調信号と受光した光の積に応じた信号を出力し、処理部610が積値に対応するデータを光の種別ごとに収集し、収集結果に基づいて反応光の減衰特性を算出する。

請求項（抜粋）：

第1の周波数で変化する第1の電気信号によって強度変調が施され、第1の周波数で周期的に強度が変化する第1の波長を有する第1の光を測定対象体に照射する送光部と、前記測定対象体での前記第1の光の散乱光である第2の光と、前記送光部から出力された前記第1の光が前記測定対象体に照射された結果、前記測定対象体で生じた第2の波長を有する第3の光とを入力し、外部からの指示によりいずれか一方の光を選択して出力する波長選択器と、光電変換利得を制御するとともに第2の周波数を有する第2の電気信号を入力し、前記波長選択器から出力された光を受光して受光光量および設定された光電変換利得に応じた電気信号であって、前記第1の周波数と前記第2の周波数との差の絶対値である第3の周波数を有する成分を含む第3の電気信号を発生する光検出器を備え、前記第3の電気信号から前記第3の周波数の成分を反映した第4の信号を出力する受光部と、前記送光部へ前記第1の電気信号を出力し、前記受光部へ前記第2の電気信号を出力し、前記可変波長選択器へ選択波長を指示する波長選択指示信号を出力するとともに、第1の波長を選択した場合に前記受光部から出力された第4の信号の第1の計測結果と第2の波長を選択した場合に前記受光部から出力された第4の信号の第2の計測結果とから前記受光部に入力する前記第2の光の強度変化の位相と前記受光部に入力する前記第3の光の強度変化の位相との位相差に基づいて前記第3の光の減衰特性を求める測定処理部と、を備えることを特徴とする減衰特性測定装置。

引用特許：

出願人引用 (6件)

高速相互相関周波数領域蛍光測定-燐光測定
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-354142 出願人：アイ・エス・エス(ユー・エス・エー)インコーポレイテッド
特開昭63-308596
特公昭49-043226

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