特許
J-GLOBAL ID:200903037048161495
表面汚染測定装置及び放射線検出器
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (3件):
森 哲也
, 内藤 嘉昭
, 崔 秀▲てつ▼
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-075616
公開番号(公開出願番号):特開2005-265498
出願日: 2004年03月17日
公開日(公表日): 2005年09月29日
要約:
【課題】 測定対象物の表面が湾曲状や凹凸状の場合、又は測定対象物が入り組んでいる場合でも、放射線を微量であっても正確に測定すること。【解決手段】 所定の放射線のみを透過する遮光膜23を透過した放射線を、シンチレータ22に入射し、シンチレータ22においてその放射線の量に応じた光を発光させる。この光をアクリルパイプ21によって伝搬させ、各光電子増倍管17-1〜17〜5で検出する。この検出信号を、計測器13の補正部31で補正し、この補正結果から放射線の量を計測する。このように計測可能な放射線検出器11を棒状とすることにより、測定対象物の表面が湾曲状の場合、例えば測定対象物が配管の内面である場合でも、その配管内に検出器を挿入して、微量の放射線でも正確に測定可能とする。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
細長い筒状で光を伝搬するパイプの外周面に、放射線が入射されると光を発光するシンチレータを取り付け、このシンチレータの外周面を、所定の放射線のみを透過し、他の光は遮光する遮光膜で被覆し、前記パイプの内部に、前記シンチレータから発光された光を検出する光電子増倍管を固定して成る検出手段と、
前記光電子増倍管での光の検出に応じて前記検出手段から出力される検出信号より放射線の量を求める計測手段と
を備えたことを特徴とする表面汚染測定装置。
IPC (3件):
G01T1/169
, G01T1/20
, G21C17/00
FI (4件):
G01T1/169 A
, G01T1/20 B
, G01T1/20 C
, G21C17/00 D
Fターム (19件):
2G075CA13
, 2G075DA08
, 2G075FA18
, 2G075FC14
, 2G075GA02
, 2G088EE11
, 2G088EE17
, 2G088EE21
, 2G088FF05
, 2G088GG13
, 2G088GG14
, 2G088GG18
, 2G088GG20
, 2G088JJ01
, 2G088JJ09
, 2G088JJ36
, 2G088KK06
, 2G088KK29
, 2G088LL15
引用特許: