特許
J-GLOBAL ID:200903037073932072
信号導通試験方式
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
福山 正博
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-342898
公開番号(公開出願番号):特開2001-160808
出願日: 1999年12月02日
公開日(公表日): 2001年06月12日
要約:
【要約】【課題】ATM回線に接続され対向するATM端末装置間で、ATMレイヤより上位のAALレイヤまでの処理動作を含むATM端末装置の動作と、ATM回線の回線品質を確認するための信号導通試験方式を提供する。【解決手段】ATM回線30を介して対向接続された1対のATM端末装置10、20より構成される。各ATM端末装置10、20は、ATMインタフェース終端部11、21、STMインタフェース終端部13、23、両終端部間のCLAD処理部12、22、装置制御部15、25および試験処理部14、24より構成される。また、試験処理部14、24は、信号処理部141、241およびOAMセル生成/検出部142、242を含んでいる。信号処理部141、241は、試験パタン生成部143、試験パタン照合部144およびクランプ処理部145を含んでいる。
請求項(抜粋):
ATM回線に接続され、それぞれ装置全体の制御を行う装置制御部および物理レイヤを終端するATMインタフェース終端部を含み相互に対向している1対のATM端末装置間の信号導通試験を行う信号導通試験方式において、前記各ATM端末装置は、通信装置等とのSTMインタフェースの物理レイヤを終端するSTMインタフェース終端部と、前記ATMおよびSTMインタフェース終端部間に接続されATMセル組立分解処理を行うCLAD処理部と、試験起動又は試験停止処理を行うOAM(Operation,Administration and Maintenance)セルの送受信を行うOAM生成/検出部および試験実行中の主信号データ処理を行う信号処理部を含む試験処理部とを備えることを特徴とする信号導通試験方式。
IPC (3件):
H04L 12/28
, H04L 12/26
, H04L 29/14
FI (3件):
H04L 11/20 D
, H04L 11/12
, H04L 13/00 315 Z
Fターム (17件):
5K030GA11
, 5K030HA10
, 5K030HB11
, 5K030JA01
, 5K030JA06
, 5K030JA10
, 5K030JL07
, 5K030KA13
, 5K030MC01
, 5K030MC04
, 5K035AA04
, 5K035FF01
, 5K035FF02
, 5K035GG02
, 5K035HH02
, 5K035HH07
, 5K035MM02
引用特許: