特許
J-GLOBAL ID：200903037095655269

回路基板検査装置

発明者：
南 秀明

南 秀明 について


出願人/特許権者：
日置電機株式会社

日置電機株式会社 について


代理人 (1件)： 酒井 伸司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-151278
公開番号（公開出願番号）：特開2000-338168
出願日： 1999年05月31日
公開日（公表日）： 2000年12月08日
要約：
【要約】【課題】 製造コストの低減および検査時間の短縮を図ることにある。【解決手段】 検査対象の回路基板PCの一面側に配設されるベース電極7と、回路基板PCの他面側に配設される接触型プローブ3aとを備え、検査対象導体パターンに接触型プローブ3aを接触させた状態で検査対象導体パターンとベース電極7との間に検査用交流信号SACを印加して測定した静電容量に基づいて検査対象導体パターンの断線短絡を検査する回路基板検査装置1において、検査対象導体パターンと他の導体パターンとの間の絶縁抵抗を測定可能な周波数の検査用交流信号SACを印加し、測定した静電容量および所定の許容静電容量範囲に基づいて検査対象導体パターンについての絶縁検査を行う。
請求項（抜粋）：
検査対象の回路基板の一面側に配設されるベース電極と、前記回路基板の他面側に配設される接触型プローブとを備え、検査対象導体パターンに前記接触型プローブを接触させた状態で当該検査対象導体パターンと前記ベース電極との間に検査用交流信号を印加して測定した静電容量に基づいて当該検査対象導体パターンの断線短絡を検査する回路基板検査装置において、前記検査対象導体パターンと他の導体パターンとの間の絶縁抵抗を測定可能な周波数の前記検査用交流信号を印加し、前記測定した静電容量および所定の許容静電容量範囲に基づいて前記検査対象導体パターンについての絶縁検査を行うことを特徴とする回路基板検査装置。
IPC (2件)：
G01R 31/02 ,  G01R 27/26
FI (2件)：
G01R 31/02 ,  G01R 27/26 C
Fターム (15件)：
2G014AA02 ,  2G014AA03 ,  2G014AA17 ,  2G014AB59 ,  2G014AC09 ,  2G014AC10 ,  2G028AA02 ,  2G028BC01 ,  2G028CG03 ,  2G028CG07 ,  2G028DH05 ,  2G028DH11 ,  2G028DH14 ,  2G028HM08 ,  2G028HN09
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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