特許

J-GLOBAL ID：200903037256631861

光イメージング装置

発明者： 謝 天宇 ,  内山 昭夫 ,  大川 敦
出願人/特許権者： オリンパス光学工業株式会社
代理人 (1件)： 伊藤 進
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-115399
公開番号（公開出願番号）：特開2003-028791
出願日： 2002年04月17日
公開日（公表日）： 2003年01月29日
要約：

【要約】【課題】 複数種類の光プローブの特徴情報を自動的に検知・判別できるようにした光イメージング装置を提供する。【解決手段】 光プローブ9の基端の装着部10にはその光プローブのスキャニング方式や光路長等のプローブ情報に対応したプローブ情報保持手段39が設けられ、光プローブ9を観測装置6に接続(装着)すると観測装置6側に設けたプローブ情報検知手段でそのプローブ情報を自動的に検知して、その検知したプローブ情報により、スキャニングや参照光の光路長等を、実際に接続された光プローブ9に対応する状態に設定して、使い勝手の良い構成にした。

請求項（抜粋）：

被検体に低干渉性光を照射し、前記被検体から反射・散乱した反射・散乱光の情報から前記被検体の断層像を構築する光イメージング装置であって、前記低干渉性光を発生する光源と、前記低干渉性光を計測光と参照光に二分岐させる光分岐手段と、前記計測光を被検体に伝送・受光するための交換可能な光コネクタ部を持つ光プローブ部と、前記光プローブと接続し、前記計測光を被検体に対して走査させるスキャニング駆動手段と、前記被検体で反射・散乱された計測光と干渉する前記参照光の光路長を調整する光ディレイ手段と、前記計測光と前記参照光の光学特性を調整する光学系調整手段と、前記受信光と参照光との干渉光を検出する光検出手段と、前記光検出手段が検出した信号を処理し、前記被検体の断層画像を生成する画像生成手段と、前記被検体の断層画像の表示パラメータを調整する画像表示調整手段とを有する光イメージング装置において、前記光プローブに該光プローブの特徴情報を保持する情報保持手段と前記光プローブの情報を検知する情報検知手段を設け、前記情報検知手段からの検知情報により、前記スキャニング駆動手段、前記光学系調整手段、及び前記画像表示調整手段の少なくとも何れか一つを制御する制御手段を備えたことを特徴とする光イメージング装置。

IPC (5件)：

G01N 21/17 620 ,  A61B 1/00 300 ,  A61B 10/00 ,  G01B 9/02 ,  G01B 11/24

FI (5件)：

G01N 21/17 620 ,  A61B 1/00 300 D ,  A61B 10/00 E ,  G01B 9/02 ,  G01B 11/24 D

Fターム (70件)：

2F064AA09 ,  2F064BB07 ,  2F064EE01 ,  2F064FF05 ,  2F064GG02 ,  2F064GG12 ,  2F064GG24 ,  2F064GG52 ,  2F064HH01 ,  2F064HH05 ,  2F064KK01 ,  2F065AA52 ,  2F065FF04 ,  2F065FF51 ,  2F065LL02 ,  2F065LL12 ,  2F065LL22 ,  2F065MM14 ,  2F065MM15 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ36 ,  2F065SS02 ,  2G059AA05 ,  2G059AA06 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059EE11 ,  2G059FF01 ,  2G059GG10 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ12 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ17 ,  2G059KK01 ,  2G059LL01 ,  2G059MM01 ,  2G059MM04 ,  2G059MM08 ,  2G059MM09 ,  2G059MM10 ,  2G059MM18 ,  2G059NN01 ,  2G059PP01 ,  2G059PP04 ,  4C061AA00 ,  4C061BB05 ,  4C061CC07 ,  4C061DD00 ,  4C061FF46 ,  4C061FF47 ,  4C061LL03 ,  4C061MM10 ,  4C061NN01 ,  4C061NN05 ,  4C061QQ01 ,  4C061QQ09 ,  4C061RR06 ,  4C061RR18 ,  4C061RR26 ,  4C061SS11 ,  4C061SS21 ,  4C061WW04 ,  4C061WW20

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 光ファイバ撮像ガイドワイヤ、カテーテルまたは内視鏡を用いて光学測定を行う方法および装置
  公報種別：公表公報   出願番号：特願平9-531100   出願人：マサチューセッツインスティテュートオブテクノロジー
• 光走査画像取得システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-298684   出願人：オリンパス光学工業株式会社
• 超音波診断装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-292579   出願人：株式会社島津製作所