特許
J-GLOBAL ID:200903086080732470

光ファイバ撮像ガイドワイヤ、カテーテルまたは内視鏡を用いて光学測定を行う方法および装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 山本 秀策
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-531100
公開番号(公開出願番号):特表2000-503237
出願日: 1997年02月27日
公開日(公表日): 2000年03月21日
要約:
【要約】光学的にコヒーレントな断層撮影を行う撮像システムは、光照射源と、参照光反射器と、参照光反射器につながる第1の光路と、内視鏡ユニットに接続された第2の光路とを含む。内視鏡ユニットは好適には、孔を規定する細長いハウジングと、細長いハウジングの孔内に位置して孔の長さ方向に延びる、近位端と遠位端とを有する回転可能な単一モードの光ファイバと、回転可能な単一モードの光ファイバの遠位端に接続されて単一モードの光ファイバからの光照射を構造体に伝達し且つ構造体からの反射光照射を単一モードの光ファイバに伝達するように位置づけられた光学システムとを含む。システムはさらに、光照射源からの光照射を反射器への第1の光路に沿って及び第2の光路に沿って分割するビーム分割器と、第1の光路に沿って伝達された反射器からの反射光と第2の光路に沿って構造体から伝達された反射光とを受け取るように位置づけられた検出器とをさらに含む。検出器は、参照反射器からの反射光照射と構造体からの反射光照射とに応答して信号を発生させ、プロセッサは、検出器からの信号に応答して構造体の画像を生成する。システムは、画像の回転方向および長手方向の両方の走査を提供する。
請求項(抜粋):
インサイチュで構造体を撮像する装置であって、 光照射源と、 参照光反射器と、光照射とプローブユニットとを連結する手段とを有する、該照射源に結合された干渉計と、を含む装置であって、 該プローブユニットが、 孔を規定する細長いハウジングであって、該孔内に位置され該孔の長さ方向に延びる、近位端と遠位端とを有する少なくとも1つの光ファイバを有する、細長いハウジングと、 該光照射源を該ファイバの該近位端に接続する結合器と、 該光ファイバの該遠位端に接続され該ファイバからの光照射を構造体に伝達し且つ該構造体からの光照射を該光ファイバの該遠位端に伝達するように位置づけられた光システムと、 該ファイバの該遠位端からの該伝達された光照射を方向づけるビームディレクタと、 該参照反射器から反射した光照射と該構造体から反射した光照射とに応答して信号を発生させる検出器と、 該検出器からの該信号に応答して該構造体の画像を生成するプロセッサと、を含む装置であって、 該光照射を連結する手段が、該参照反射器および該構造体からの光照射を受け取って連結し、連結された光を該検出器方向に向ける、装置。
IPC (5件):
A61B 1/00 300 ,  A61B 1/00 ,  A61B 8/12 ,  A61M 25/00 400 ,  G01B 11/00
FI (5件):
A61B 1/00 300 D ,  A61B 1/00 300 F ,  A61B 8/12 ,  A61M 25/00 400 ,  G01B 11/00 Z
引用特許:
審査官引用 (4件)
  • 特表平6-511312
  • 内視鏡装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平3-196793   出願人:オリンパス光学工業株式会社
  • 特表平6-511312
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