特許
J-GLOBAL ID:200903037719023505
パターン認識装置及びその方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (4件):
蔦田 璋子
, 蔦田 正人
, 中村 哲士
, 富田 克幸
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-056995
公開番号(公開出願番号):特開2007-233873
出願日: 2006年03月02日
公開日(公表日): 2007年09月13日
要約:
【課題】認識に有効で高速に計算できる類似度を使用することにより、短い時間で認識を行うことができるパターン認識装置を提供する。【解決手段】画像入力部11、顔領域抽出部12、顔特徴点検出部13、正規化画像生成部14、部分空間生成部15、類似度計算部16、辞書部分空間格納部17、判定部18、表示部19からなり、入力パターンから入力部分空間を算出し、辞書パターンから辞書部分空間を算出し、入力部分空間の正規直交基底Φ1,・・・ΦMと辞書部分空間の正規直交基底Φ1,・・・ΦMに対してΦiとΨjの距離(i=1,・・・M、j=1,・・・N)の平均を入力パターンと辞書パターンの類似度とし、この類似度を用いて識別をする。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
認識対象のパターンを入力するパターン入力部と、
前記入力パターンから入力部分空間を生成する入力部分空間生成部と、
前記認識対象に関する辞書パターンから辞書部分空間を生成する辞書部分空間生成部と、
前記入力部分空間と前記辞書部分空間とから前記入力パターンと前記辞書パターンの類似度を計算する類似度計算部と、
前記類似度から前記認識対象を識別する識別部と、
を有し、
前記類似度計算部は、
前記入力部分空間の正規直交基底Φ1,・・・ΦMと前記辞書部分空間の正規直交基底Ψ1,・・・ΨNを求め、
前記全ての正規直交基底Φi(但し、i=1,・・・Mである)と前記全ての正規直交基底Ψj(但し、j=1,・・・Nである)の距離をそれぞれ求め、
前記各距離の平均値を求めて、この平均値を前記類似度とする
ことを特徴とするパターン認識装置。
IPC (2件):
FI (3件):
G06T7/00 300A
, G06T7/00 300H
, G10L15/10 200Z
Fターム (16件):
5D015DD03
, 5L096BA18
, 5L096CA02
, 5L096EA11
, 5L096FA06
, 5L096FA09
, 5L096FA25
, 5L096FA32
, 5L096FA34
, 5L096FA35
, 5L096GA51
, 5L096GA55
, 5L096HA09
, 5L096JA03
, 5L096JA04
, 5L096JA09
引用特許: