特許
J-GLOBAL ID：200903037726315112
ミクロトーム用試料角度調整装置及びその試料角度調整方法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
清水 守
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-282420
公開番号（公開出願番号）：特開平11-118678
出願日： 1997年10月15日
公開日（公表日）： 1999年04月30日
要約：
【要約】【課題】 固形試料角度調整を、迅速、かつ的確に実施できるミクロトーム用試料角度調整装置及びその試料角度調整方法を提供する。【解決手段】 ミクロトーム用試料角度調整装置において、その角度調整は、Z軸方向に保持される軸20にクランプされるY軸方向角度調整部材14と、このY軸方向角度調整部材14にクランプされるX軸方向角度調整部材11とを備え、前記軸20を中心として前記X軸方向角度調整部材11を駆動するピエゾアクチュエータ25(1),25(2)と、前記Y軸方向角度調整部材14を駆動するアクチュエータとを設ける。
請求項（抜粋）：
固形試料または切断刃を所望の切片の厚さに対応する量だけ移動させた後、前記切断刃によって固形試料を薄切にし、薄切片を作製するミクロトーム用試料角度調整装置において、固形試料の薄切面の中心を回転中心とした角度調整が可能な角度調整手段を具備するミクロトーム用試料角度調整装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
引用特許：
審査官引用 (6件)
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特開昭59-009540
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特開昭62-255864
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特公平4-052070
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