特許
J-GLOBAL ID：200903037805553800
張力・歪み測定装置および張力・歪み調整方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
梶 良之 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-179383
公開番号（公開出願番号）：特開2001-349795
出願日： 2000年06月09日
公開日（公表日）： 2001年12月21日
要約：
【要約】【課題】 簡単および安価な構成であると共に、帯状体51の表面を傷つけることなく張力や張力バランスを高精度に求めることができ、さらに、張力バランスを容易に認識可能にする。【解決手段】 帯状体1の幅方向右側および幅方向左側の変位量を非接触で検出して変位量信号としてそれぞれ出力する非接触変位計3・3と、変位量信号の周波数分析結果から幅方向右側および幅方向左側の1次固有振動数をそれぞれ求め、これら各1次固有振動数に基づいて幅方向右側および幅方向左側の張力をそれぞれ求め、さらに両張力に基づいて幅方向の張力バランス度合いおよび歪み相対差を示す管理情報を求める張力演算器4と、管理情報を出力する表示装置12とを備えている。
請求項（抜粋）：
長手方向の2点の位置で支持された帯状体の振動を計測することにより張力および歪みの状態を測定可能な張力・歪み測定装置であって、前記帯状体の幅方向右側および幅方向左側の変位量を非接触で検出して変位量信号としてそれぞれ出力する変位量検出手段と、前記変位量信号の周波数分析結果から幅方向右側および幅方向左側の1次固有振動数をそれぞれ求め、これら各1次固有振動数に基づいて幅方向右側および幅方向左側の張力をそれぞれ求める張力算出手段と、前記両張力に基づいて幅方向の張力バランス度合いおよび歪み相対差を示す管理情報を求める演算手段と、前記管理情報を出力する出力手段とを備えていることを特徴とする張力・歪み測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01L 5/10 C
, B21C 51/00 C
2F051AA13
, 2F051AB04
, 2F051AC01
