特許
J-GLOBAL ID：200903037896350079
偏光変調蛍光測定装置
出願人/特許権者：
日本分光株式会社
日本分光株式会社 について
代理人 (1件)： 岩橋 祐司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-018701
公開番号（公開出願番号）：特開2000-214088
出願日： 1999年01月27日
公開日（公表日）： 2000年08月04日
要約：
【要約】【課題】 本発明の目的は、蛍光偏光度、蛍光検出円二色性、蛍光検出直線二色性を1台で適正に測定できると共に、測定時間を短縮できる偏光変調蛍光測定装置を提供することにある。【解決手段】 光源10よりの光束を順次波長走査し、該単色光を直線偏光化する試料照射部12と、該直線偏光を所定の変調周波数fで所望の2偏光方位の偏光L1に交番的に変化させる光弾性変調素子16と、該2偏光方位の偏光L1を交番的に試料24に照射し、該試料24より発せられた蛍光L2の進行方向に垂直な平面内で水平又は垂直方向に偏光した成分を取出す検光子20と、該検光子20からの蛍光L2を受光し電気信号に変換する検出器22と、該2偏光方位の偏光L1を該試料照射部12により実質的に同一波長で切替え、かつその波長を順次変更する制御手段26と、を備えたことを特徴とする偏光変調蛍光測定装置。
請求項（抜粋）：
光束を放射する光源と、前記光源からの光束を順次波長走査し、該順次波長走査された単色光を直線偏光化する試料照射部と、前記試料照射部からの直線偏光を所定の変調周波数で所望の2の偏光方位の偏光に交番的に変化させる光弾性変調素子と、試料が入れられ、前記光弾性変調素子からの2偏光方位の偏光が該試料に交番的に照射されるように設けられた蛍光セルと、前記試料より発せられた蛍光の進行方向に垂直な平面内で水平方向又は垂直方向に偏光した成分を取り出す検光子と、前記検光子からの蛍光を受光し、電気信号に変換する検出器と、前記光弾性変調素子により偏光変調される2偏光方位の偏光を前記試料照射部により実質的に同一波長で切り替え、かつその波長を順次変更する制御手段と、を備えたことを特徴とする偏光変調蛍光測定装置。
Fターム (16件)：
2G043AA01
, 2G043BA16
, 2G043CA03
, 2G043DA06
, 2G043EA01
, 2G043GA02
, 2G043GA04
, 2G043GB18
, 2G043HA07
, 2G043JA03
, 2G043KA07
, 2G043LA02
, 2G043MA01
, 2G043NA01
, 2G043NA04
, 2G043NA05
引用特許：
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