特許
J-GLOBAL ID：200903037905880949

試験システムおよび試験方法および感知器

発明者：
鈴木 隆司

鈴木 隆司 について

, 
大熊 修一

大熊 修一 について


出願人/特許権者：
ニッタン株式会社

ニッタン株式会社 について


代理人 (1件)： 植本 雅治
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-366945
公開番号（公開出願番号）：特開2000-331258
出願日： 1999年12月24日
公開日（公表日）： 2000年11月30日
要約：
【要約】【課題】 感知器の試験に時間を要する場合でも、試験器における試験に要する時間を短縮することの可能な試験システムおよび試験方法および感知器を提供する。【解決手段】 感知器2-1は、自己の感知器2-1の試験を試験器1などからの指令なしに、常時あるいは一定周期で試験を行なう試験実行手段13と、試験実行手段13による試験結果が格納される試験結果記憶手段14と、所定の伝送路3から通信により送られるコマンドを受信するコマンド受信手段12と、コマンド受信手段12によって試験器1から試験に関するコマンド(例えば試験コマンド)が受信されたときに、試験結果記憶手段14に格納されている試験結果を試験器1に返送する試験結果返送手段15とを備えている。
請求項（抜粋）：
感知器を試験器により試験する試験システムにおいて、前記感知器は、試験器からの指令なしで試験を行なう試験実行手段と、試験実行手段による試験結果が格納される試験結果記憶手段と、試験器からの指令により試験結果記憶手段に記憶されている試験結果を試験器に返送する試験結果出力手段とを備えていることを特徴とする試験システム。
IPC (3件)：
G08B 17/00 ,  G08B 25/00 520 ,  G08B 29/04
FI (3件)：
G08B 17/00 C ,  G08B 25/00 520 A ,  G08B 29/04
Fターム (18件)：
5C087AA12 ,  5C087BB72 ,  5C087CC02 ,  5C087CC22 ,  5C087CC23 ,  5C087DD04 ,  5C087EE20 ,  5C087FF04 ,  5C087GG18 ,  5C087GG66 ,  5C087GG70 ,  5C087GG79 ,  5C087GG84 ,  5G405AA01 ,  5G405AA10 ,  5G405AD07 ,  5G405CA13 ,  5G405CA60
引用特許：
審査官引用 (7件)
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