特許
J-GLOBAL ID:200903037971731920
変調された電磁波を空間的に分解して光検出し復調するための装置及び方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
吉武 賢次 (外4名)
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-581152
公開番号(公開出願番号):特表2003-532122
出願日: 2001年03月26日
公開日(公表日): 2003年10月28日
要約:
【要約】時間的に変調された電磁波を空間的に分解して光検出し復調する装置及び方法により、時間的に変調され空間的に符号化された放射電磁界の位相、振幅及びオフセットを測定できる。マイクロ光学素子(41)が、場面の一部分(30)を空間的に平均化し、互いに近接した2つのフォトサイト(51.1、51.2)に平均化された強度を均等に分布する。これらのフォトサイト(51.1)のそれぞれには、2つの格納エリア(54.1、54.2)が隣接しており、この中にフォトサイトからの電荷が即座に移動され、本質的にノイズがなく蓄積される。これは、電荷結合素子(CCD)の原則を用いることにより可能である。この装置は、高い光学的な開口率、オフセットエラーに対する無感応性、ほとんど光がない状態でも維持される高い感度、同時データ獲得、小さいピクセルサイズ、及び正弦波とパルス状の放射信号に利用可能な信号光子を使用するさいに最大効率を兼ね備える。部品を動かさずに2D又は3Dレンジデータを与える飛行時間(TOF)レンジイメージングシステムにおいて優先的に使用される。
請求項(抜粋):
1次元又は2次元配列のピクセル(50)を含み、ピクセル(50)が、 入射電磁放射を電気信号に変換する少なくとも2つの要素(51.1、51.2)を含み、各変換要素(51.1、51.2)が、 前記電気信号を格納する少なくとも1つの要素(54.1から54.4)に関連し、前記少なくとも1つの格納要素(54.1から54.4)が、入射電磁放射にアクセス不能又は無感応である、時間的に変調された電磁波を空間的に分解して光検出し復調するための装置において、 ピクセル(50)は、ピクセル(50)に入射する電磁放射を空間的に平均化し、平均化された電磁放射をピクセル(50)の前記変換要素(51.1、51.2)に均等に分配する光学要素(41)を含むことを特徴とする装置。
IPC (6件):
G01S 17/10
, G01J 1/02
, G01J 1/42
, H01L 27/14
, H01L 27/148
, H01L 31/0232
FI (6件):
G01S 17/10
, G01J 1/02 Q
, G01J 1/42 N
, H01L 31/02 D
, H01L 27/14 K
, H01L 27/14 B
Fターム (52件):
2G065AA04
, 2G065AA11
, 2G065AB02
, 2G065AB04
, 2G065AB05
, 2G065AB14
, 2G065AB24
, 2G065AB28
, 2G065BA04
, 2G065BA06
, 2G065BA09
, 2G065BA33
, 2G065BA34
, 2G065BB06
, 2G065BB15
, 2G065BB27
, 2G065BC09
, 2G065BC13
, 2G065BC16
, 2G065BC22
, 2G065BC33
, 2G065CA05
, 2G065DA15
, 2G065DA20
, 4M118AB02
, 4M118AB03
, 4M118BA10
, 4M118CA02
, 4M118CA08
, 4M118FA06
, 4M118GD03
, 4M118GD04
, 5F088BB03
, 5F088BB06
, 5F088EA03
, 5F088EA04
, 5F088JA12
, 5F088JA20
, 5J084AA05
, 5J084AB01
, 5J084AB07
, 5J084AB17
, 5J084AD01
, 5J084BA36
, 5J084BA38
, 5J084BB10
, 5J084CA20
, 5J084CA55
, 5J084DA01
, 5J084DA07
, 5J084DA08
, 5J084EA01
引用特許:
引用文献:
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