特許
J-GLOBAL ID：200903038137334812

光による微粒子操作装置

発明者：
松爲 久美子

松爲 久美子 について

, 
奥川 久

奥川 久 について


出願人/特許権者：
株式会社ニコン

株式会社ニコン について


代理人 (1件)： 山口 孝雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-109394
公開番号（公開出願番号）：特開2002-303800
出願日： 2001年04月09日
公開日（公表日）： 2002年10月18日
要約：
【要約】【課題】 微粒子を捕捉する力を安定的に強く保ちつつ、コントラストの高い良好な微粒子像を観察することのできる微粒子操作装置。【解決手段】 光源(1)からのトラップ光に基づいて集光光学系(6)を介して生成された集光光束を媒質(B)中の微粒子(S)に照射することにより、微粒子を光により捕捉し操作する微粒子操作装置。トラップ光とは波長の実質的に異なる観察光に基づいて集光光学系を介して微粒子を観察するための観察系(11〜16)を備えている。集光光学系におけるトラップ光を基準とした観察光の軸上色収差Δが、所定の負の値を有する。
請求項（抜粋）：
トラップ光に基づいて集光光学系を介して生成された集光光束を媒質中の微粒子に照射することにより、前記微粒子を光により捕捉し操作する微粒子操作装置において、前記トラップ光とは波長の実質的に異なる観察光に基づいて前記集光光学系を介して前記微粒子を観察するための観察系を備え、前記集光光学系における前記トラップ光を基準とした前記観察光の軸上色収差Δが所定の負の値を有することを特徴とする微粒子操作装置。
IPC (3件)：
G02B 21/32 ,  G02B 21/06 ,  B82B 3/00
FI (3件)：
G02B 21/32 ,  G02B 21/06 ,  B82B 3/00
Fターム (4件)：
2H052AC18 ,  2H052AC26 ,  2H052AC34 ,  2H052AF19
引用特許：
審査官引用 (4件)
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