特許
J-GLOBAL ID:200903038166847497

狭小部品実装ユニット検査システム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 志賀 富士弥 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-002965
公開番号(公開出願番号):特開平6-207908
出願日: 1993年01月12日
公開日(公表日): 1994年07月26日
要約:
【要約】【目的】 狭小部品実装ユニット検査システムにおいて、外観検査から電気検査にスムーズに移行できるようにする。【構成】 電気検査の前に、外観検査工程2とは別に検査ピン当接可否判定装置3を設け、狭小部品を実装したプリント配線基板ユニットの指定箇所への電気検査の検査ピンの当接可否を判定する。判定装置3は、当接する部品の端子やハンダ面の状態をビデオカメラ3aの撮像により認識し、コンピュータ3bによりその認識データを基準データと比較して、変形部品の実装、部品のズレ、他部品の落下、異物の存在などを検出し、検査ピンの当接可否を判定する。当接の可否はユニットにマーキング装置4でマーキングされ、マーク読取装置5で読み取られて、当接可のユニットのみが電気検査工程7に送られる。これにより、検査ピンの損傷や実装部品の破壊を防止し、電気検査を円滑に行えるようにする。
請求項(抜粋):
狭小部品を実装して組み立てたユニットを外観検査し、次いで接触子を該狭小部品の端子および/または該ユニットのハンダ面に当接させて電気検査するシステムにおいて、前記接触子の当接位置または範囲を指定することにより該接触子が当接する狭小部品の端子および/またはユニットのハンダ面を画像処理で認識し、該認識データを基準データと比較して該当接の可否を前記外観検査とは別に判定する手段を設けたことを特徴とする狭小部品実装ユニット検査システム。
IPC (3件):
G01N 21/88 ,  H05K 3/34 ,  H05K 13/08
引用特許:
審査官引用 (4件)
  • 特開平3-204120
  • 特開平4-148541
  • 特開昭63-094650
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