特許
J-GLOBAL ID:200903038272792057

電子モジュールおよびこの電子モジュールを搭載した電子機器ならびに電子モジュールにおける端子間の接続状態検証方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 木下 茂
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-015067
公開番号(公開出願番号):特開2005-209894
出願日: 2004年01月23日
公開日(公表日): 2005年08月04日
要約:
【課題】 例えば表示パネルとこれに接続されたフレキシブル回路基板の相互の端子間における接続抵抗等を精度よく測定することができ、電気的な接続状態を的確に評価できる手段の提供。【解決手段】 表示パネルを構成するガラス等の透明基板1における端子1aには、フレキシブル配線基板2における端子2aがACF3を介して熱圧着により接続されている。前記端子1a,2aとは別に、端子の接続抵抗値を測定するための3つのダミー端子が形成され、これらを相互に短絡する導電パターン1bが透明基板1側に形成されている。一方、フレキシブル配線基板2側には3つのダミー端子にそれぞれ接続される各端子より、リード端子2bが延出され、その端部には円形状のランドパターンr1〜r4が形成されている。これらを用いて四端子抵抗測定法により端子間における比較的低い接続抵抗を高い精度で測定することができる。【選択図】 図2
請求項(抜粋):
互いに多数の接続端子をそれぞれに備えた第1部材および第2部材からなり、前記第1部材および第2部材における前記接続端子を相互に接続することで電気的な導通をはかるようにした電子モジュールであって、 前記第1部材および第2部材の間で接続される端子間における接続抵抗を測定すべき端子がそれぞれに決められており、 前記第1部材および第2部材のいずれか一方の部材には、前記接続抵抗を測定すべき端子を含む少なくても3つの前記接続端子の間において、これらを電気的に接続する抵抗値測定用パターンが形成され、 かつ、前記第1部材および第2部材における他の部材には、前記3つの接続端子に接続される各端子よりそれぞれ延出される接続抵抗測定用のリード端子が形成されていることを特徴とする電子モジュール。
IPC (1件):
H01L21/60
FI (3件):
H01L21/60 321Y ,  H01L21/60 311R ,  H01L21/60 311W
Fターム (5件):
5F044KK06 ,  5F044MM38 ,  5F044MM48 ,  5F044NN19 ,  5F044RR00
引用特許:
出願人引用 (1件)
  • 液晶表示パネル
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平5-112546   出願人:株式会社リコー
審査官引用 (2件)

前のページに戻る