特許
J-GLOBAL ID：200903038336477525

電極洗浄方法及び残留塩素計

発明者：
植田 武志

植田 武志 について

, 
平野 順子

平野 順子 について


出願人/特許権者：
横河電機株式会社

横河電機株式会社 について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-293274
公開番号（公開出願番号）：特開2003-098143
出願日： 2001年09月26日
公開日（公表日）： 2003年04月03日
要約：
【要約】【課題】 残留塩素計における電極に対して、側壁面と電極の形状を同じ形状にしてその隙間に検水と共に洗浄ビーズを流し込んで電極の洗浄効率の向上を図る。【解決手段】 電極を備えると共に検水を収容する有底筒体において、その底部側側壁面と作用極との形状を上下方向に凹凸の関係にし且つ所定間隔の隙間を維持して沿面距離を稼ぐようにし、この隙間の下部横方向から上部横方向に検水と共に洗浄ビーズを流して前記作用極を洗浄するようにする。
請求項（抜粋）：
電極を備えると共に検水を収容する有底筒体において、その底部側側壁面と前記電極との形状を上下方向に凹凸の関係にし且つ所定間隔の隙間を維持して沿面距離を稼ぐようにし、前記隙間の下部横方向から上部横方向に検水と共に洗浄ビーズを流して前記電極を洗浄するようにしたことを特徴とする電極洗浄方法。
IPC (3件)：
G01N 27/38 355 ,  G01N 27/416 ,  G01N 27/48 311
FI (3件)：
G01N 27/38 355 ,  G01N 27/48 311 ,  G01N 27/46 316 Z
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (4件)
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