特許

J-GLOBAL ID：200903038376146602

分析装置

発明者： 尾▲崎▼ 元章 ,  鶴田 博士
出願人/特許権者： オリンパス株式会社
代理人 (1件)： 酒井 宏明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-183070
公開番号（公開出願番号）：特開2009-020004
出願日： 2007年07月12日
公開日（公表日）： 2009年01月29日
要約：

【課題】分析処理に使用する容器の測光領域以外の領域についても汚れを検出できる分析装置を提供すること。【解決手段】この発明にかかる分析装置1は、反応容器21の汚れを検出するために、検出用光源121と検出用測光部122とを同期させて昇降することによって、反応容器21側面に対し分析処理時における測光領域とともに測光領域以外の領域に対しても光を照射することができ、さらに反応容器21の各領域の所定の光学的測定をそれぞれ測定することができる。そして、分析装置1は、検出用測光部122によって測定された反応容器21の各領域における測定結果をもとに汚れの程度を検出するため、分析処理に使用する容器の測光領域以外の領域についても汚れを検出することが可能になる。【選択図】 図2

請求項（抜粋）：

容器に保持された液体検体を分析する分析装置において、 前記液体検体を保持する容器に光を照射する分析用光源および、前記分析用光源から照射された光のうち前記容器を透過した光を受光する分析用受光手段を備えた分析用測光手段と、 前記分析用光源による光が照射される領域である測光領域以外の領域に対して光を照射する検出用光源および、前記測光領域以外の領域における前記容器の光学特性を測定する検出用測光手段を備えた汚れ用測定手段と、 前記検出用測光手段の測定結果をもとに前記容器の汚れの程度を検出する汚れ検出手段と、 を備えたことを特徴とする分析装置。

IPC (5件)：

G01N 35/02 ,  G01N 21/90 ,  G01N 21/64 ,  G01N 21/27 ,  G01N 21/15

FI (5件)：

G01N35/02 E ,  G01N21/90 Z ,  G01N21/64 Z ,  G01N21/27 Z ,  G01N21/15

Fターム (47件)：

2G043AA03 ,  2G043BA16 ,  2G043CA09 ,  2G043EA01 ,  2G043GA07 ,  2G043GB01 ,  2G043HA02 ,  2G043LA01 ,  2G043MA16 ,  2G051AA28 ,  2G051AB15 ,  2G051AC15 ,  2G051BA08 ,  2G051CA03 ,  2G051CB02 ,  2G051DA06 ,  2G057AA01 ,  2G057AB01 ,  2G057AB02 ,  2G057AB03 ,  2G057AC01 ,  2G057AD02 ,  2G057BA01 ,  2G057BB01 ,  2G057BB06 ,  2G057HB03 ,  2G057HB06 ,  2G057JA02 ,  2G057JB10 ,  2G058GA01 ,  2G059AA01 ,  2G059BB13 ,  2G059CC16 ,  2G059DD05 ,  2G059DD12 ,  2G059EE01 ,  2G059EE07 ,  2G059EE12 ,  2G059FF11 ,  2G059FF12 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059HH03 ,  2G059JJ01 ,  2G059KK04 ,  2G059NN07 ,  2G059PP01

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 自動分析装置および容器の汚染判定方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-333306   出願人：株式会社日立製作所, 日立計測エンジニアリング株式会社