導電性部材間の水分分布測定方法、高分子膜の水分分布測定セル及び高分子膜の水分分布測定装置

発明者： , ,
出願人/特許権者： ,
代理人 (1件)：磯野道造
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-337761
公開番号（公開出願番号）：特開2004-170297
出願日： 2002年11月21日
公開日（公表日）： 2004年06月17日
要約：

【課題】導電性部材間の水分分布測定方法、高分子膜の水分分布測定セル、及び高分子膜の水分分布測定装置を提供する。【解決手段】静磁場を発生させる静磁場発生手段と、傾斜磁場を発生させる傾斜磁場発生手段と、電磁波を照射させる電磁波照射手段6a、6bと、電磁波を検出する電磁波検出手段6a、6bと、検出した電磁波を電気信号に変換する変換手段6a、6bと、この電気信号に基づきMRI画像を作成・出力する画像処理手段とを備えたMRI装置で、対向して配置された導電性を有する2つの板状の導電性部材2、3間の水分の分布を測定する方法であって、この2つの板状の導電性部材2、3間に沿った方向で、水分に電磁波7、7を照射して、2つの導電性部材2、3間の水分の分布を測定することを特徴とする導電性部材間の水分分布測定方法である。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

MRI装置で、対向して配置された導電性を有する2つの板状の導電性部材間の水分の分布を測定する方法であって、前記2つの板状の導電性部材間に沿った方向で、前記水分に電磁波を照射して、前記2つの導電性部材間の水分の分布を測定することを特徴とする導電性部材間の水分分布測定方法。

IPC (4件)：

G01N24/00 , A61B5/055 , G01N24/08 , G01R33/30

FI (4件)：

G01N24/00 Z , A61B5/05 382 , G01N24/08 510P , G01N24/02 510Z

Fターム (13件)：

4C096AA06 , 4C096AA17 , 4C096AA20 , 4C096AB50 , 4C096BA04 , 4C096DC22 , 4C096DC35 , 4C096DD14 , 5H026AA06 , 5H026BB00 , 5H026CX05 , 5H027AA06 , 5H027KK31

引用特許：

審査官引用 (9件)

特公平8-007168
核磁気共鳴を用いた検査方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-260639 出願人：株式会社日立製作所, 株式会社日立メディコ
特表平5-502097

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引用文献：

審査官引用 (4件)

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