特許
J-GLOBAL ID：200903038500438021
不良率評価方法および不良率評価システム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-274544
公開番号（公開出願番号）：特開2000-105787
出願日： 1998年09月29日
公開日（公表日）： 2000年04月11日
要約：
【要約】【課題】本発明の目的は、前述の従来の問題点を解決するためになされたものであり、不良現象が複数種類存在するような製品の評価に好適な評価方法及び評価システムを提供することにある。【解決手段】本発明は、上記目的を達成するために、製品の不良発生の要因となる製品設計構造の特徴を記述した不良情報を分類して記憶するステップと、評価対象の製品の設計情報と該不良情報とを比較して、該設計情報の有する不良情報の種類と数とを算出するステップと、該算出した不良情報の種類と数とを用いて該製品が不良となる度合いを算出するステップとを備えるものである。
請求項（抜粋）：
製品の不良発生の要因となる製品設計構造の特徴を記述した不良情報を分類して記憶するステップと、評価対象の製品の設計情報と該不良情報とを比較して、該設計情報の有する不良情報のの種類と数とを算出するステップと、該算出した不良情報の種類と数とを用いて該製品が不良となる度合いを算出するステップとを備えることを特徴とする不良率評価方法。
IPC (2件)：
FI (3件)：
G06F 15/21 Z
, G06F 15/60 608 A
, G06F 15/60 612 Z
5B046GA01
, 5B046JA01
, 5B046KA03
, 5B049BB07
, 5B049CC23
, 5B049DD01
, 5B049EE56
