特許
J-GLOBAL ID:200903038529208254

半導体集積回路装置およびそれを用いたメモリカード

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 筒井 大和
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-133775
公開番号(公開出願番号):特開平11-328990
出願日: 1998年05月15日
公開日(公表日): 1999年11月30日
要約:
【要約】【課題】 不良セクタの自己代替えを行うことにより、コントローラを不要とし、低コストでデータ処理を高速で行う。【解決手段】 内部コントローラ10が、フラッシュメモリアレイ15から転送され、データバッファ8に格納された1セクタのデータのうち、管理データを読み出し、不良セクタがあるか否かの判断を行い、良セクタの場合には、内部コントローラ10は、データバッファ8にあるユーザ領域のデータが正しいと判断してI/Oバッファ5を介してデータ出力を行う。また、不良セクタの場合には、内部コントローラ10が、不良登録テーブルにおける代替え先登録位置を算出し、代替え先登録位置における代替え先のセクタアドレスを取得し、その代替えセクタアドレスを内部アドレスとして、フラッシュメモリアレイ15から1セクタのデータをデータバッファ8に転送し、I/Oバッファ5を介して出力する。
請求項(抜粋):
不良登録テーブルが設けられた不揮発性メモリと、前記不揮発性メモリに不良セクタがある場合に、その不良セクタの代替を行う不良セクタ代替制御手段とを1つの半導体基板上に備えたことを特徴とする半導体集積回路装置。
IPC (4件):
G11C 29/00 601 ,  G06F 12/16 310 ,  G06K 19/07 ,  G11C 16/06
FI (4件):
G11C 29/00 601 B ,  G06F 12/16 310 R ,  G06K 19/00 N ,  G11C 17/00 639 A
引用特許:
審査官引用 (1件)

前のページに戻る