電磁超音波探触子

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：波多野久 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-297525
公開番号（公開出願番号）：特開平8-160021
出願日： 1994年11月30日
公開日（公表日）： 1996年06月21日
要約：

【要約】【目的】傷の寸法や形状により反射する超音波エコーの量・方向が異なっても、超音波エコーを感度よく受信する。【構成】永久磁石32の着磁方向と直交する面に高周波電流路形成用の導電体34を設け、この導電体34を検査試料37の近傍に配置するとともに、導電体34を介して超音波を送受信して検査試料37の欠陥を探傷する電磁超音波探触子において、導電体37は複数の分岐導電体34a〜34fを有し、これら分岐導電体34a〜34fの少なくとも一つを同心円の円弧に形成した。

請求項（抜粋）：

永久磁石の着磁方向と直交する面に高周波電流路形成用の導電体を設け、この導電体を検査試料の近傍に配置するとともに、上記導電体を介して超音波を送受信して上記検査試料の欠陥を探傷する電磁超音波探触子において、上記導電体は複数の分岐導電体を有し、これら分岐導電体の少なくとも一つを同心円の円弧に形成したことを特徴とする電磁超音波探触子。

IPC (2件)：

G01N 29/24 , G01N 29/04 504

引用特許：

審査官引用 (16件)

超音波検査装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-203542 出願人：日立建機株式会社
特開平2-157651
特開昭53-106086

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