成形体の検査方法およびこの方法を用いた検査装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：鈴木由充 , 小石川由紀乃 , 新田研太
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-050232
公開番号（公開出願番号）：特開2008-215875
出願日： 2007年02月28日
公開日（公表日）： 2008年09月18日
要約：

【課題】成形体の表面の凹凸欠陥および平滑性不良の双方を、同じ光学系を用いて、効率良くかつ精度良く検出する。【解決手段】検査対象のワークWに定められた撮像対象領域R毎に、その領域R内の検査対象領域全体を照明できる大きさの拡散光を照射するとともに、ワークWからの正反射光を撮像できるように、カメラ1および光源2を位置合わせする。この位置合わせが行われる都度、光源2の点灯範囲をその出射面の一部にあたるA領域のみに限定して、検査対象領域の一部分を照明するスポット照明と、点灯範囲を限定せずに検査対象領域全体を照明する全体照明とを順に実行し、照明毎にカメラ1に撮像を実行させる。そして、スポット照明下の撮像で生成された画像を用いて平滑性不良検査用の処理を実行し、全体照明下の撮像で生成された画像を用いて凹凸欠陥検査用の処理を実行する。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

表面に塗装面が形成された成形体を検査対象としてカメラにより撮像し、生成された画像を処理して前記成形体の表面に欠陥がないかどうかを検査する方法において、前記成形体の被検査面がすべて検査対象となるように複数の検査対象領域を設定し、一検査対象領域の全体を照明することが可能な大きさの面状光を発する光源および前記カメラを、各検査対象領域に対し、それぞれ照明光に対する被検査面からの正反射光を撮像できるような関係をもたせて順に位置合わせし、前記位置合わせ処理が行われる都度、前記光源に、検査対象領域の一部分および当該領域全体にそれぞれ異なる態様による照明を実行させるとともに、前記カメラによる撮像を実行し、前記撮像により生成された画像のうち、検査対象領域の一部分への照明に対応する画像を用いて、前記成形体の表面の平滑性不良の検出に関する処理を実行する一方、検査対象領域全体への照明に対応する画像を用いて、前記成形体の表面の凹凸欠陥の検出に関する処理を実行する、ことを特徴とする成形体の検査方法。

IPC (2件)：

G01N 21/88 , G01B 11/30

FI (2件)：

G01N21/88 J , G01B11/30 A

Fターム (36件)：

2F065AA49 , 2F065AA58 , 2F065BB05 , 2F065DD06 , 2F065FF04 , 2F065FF42 , 2F065GG07 , 2F065GG13 , 2F065GG22 , 2F065GG23 , 2F065GG24 , 2F065HH02 , 2F065JJ03 , 2F065JJ09 , 2F065JJ26 , 2F065LL00 , 2F065PP25 , 2F065QQ04 , 2F065QQ13 , 2F065QQ14 , 2F065QQ31 , 2G051AA90 , 2G051AB02 , 2G051AB07 , 2G051BA01 , 2G051BA08 , 2G051BB03 , 2G051CA04 , 2G051CB01 , 2G051DA03 , 2G051EA08 , 2G051EA11 , 2G051EA12 , 2G051EA17 , 2G051EB01 , 2G051ED21

引用特許：

出願人引用 (1件)

欠陥検査方法およびその方法を用いた欠陥検査装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2006-062505 出願人：オムロン株式会社

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