特許
J-GLOBAL ID:200903039067485091

CMOS型固体撮像装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 小池 隆彌
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-111222
公開番号(公開出願番号):特開平11-307753
出願日: 1998年04月22日
公開日(公表日): 1999年11月05日
要約:
【要約】【課題】 CMOS型固体撮像装置において、フォトダイオード部の感度、解像度、フレア、暗電流を大幅に改善する構造を提供する。【解決手段】 p基板100の表面に、複数の画素と、pウェル110及びnウェル120、更に、pウェル110上に形成されたn型MOSトランジスタ及びnウェル120上に形成されたp型MOSトランジスタが形成されたツインウェル型CMOS構造を有し、各画素は、n+層130から成るフォトダイオードとn型MOSトランジスタを有し、該n型MOSトランジスタの下側には前記pウェル110を形成すると共に、フォトダイオードの下側には、pウェルを形成せず、前記nウェル120を形成している。
請求項(抜粋):
第1導電型の半導体基板表面に、複数の画素と、第1導電型の第1の層及び第2導電型の第2の層、更に、前記第1の層上に形成された第2導電型の第1MOSトランジスタ及び前記第2の層上に形成された第1導電型の第2MOSトランジスタが形成されたツインウェル型CMOS構造を有し、前記各画素は第2導電型の第3の層からなるフォトダイオードと第2導電型の第3MOSトランジスタを有し、前記第3MOSトランジスタの下側には、前記第1の層が形成されると共に、前記フォトダイオードの下側には、前記第1の層が形成されないこと、を特徴とするCMOS型固体撮像装置。
IPC (3件):
H01L 27/146 ,  H01L 31/10 ,  H04N 5/335
FI (3件):
H01L 27/14 A ,  H04N 5/335 U ,  H01L 31/10 A
引用特許:
審査官引用 (4件)
全件表示

前のページに戻る