特許

J-GLOBAL ID：200903039145442230

計測器の異常検知装置

発明者： 平林 和也 ,  金谷 利憲
出願人/特許権者： 株式会社安川電機
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-031936
公開番号（公開出願番号）：特開平7-219623
出願日： 1994年02月02日
公開日（公表日）： 1995年08月18日
要約：

【要約】【構成】 プラントシステムに設置し、システムの状態を計測する計測器の異常を検知する計測器の異常検知装置において、システムの状態を計測器で計測した計測値を記憶する計測値蓄積装置18と、計測値蓄積装置の計測値を用いて多次元自己回帰モデルを作成する自己回帰モデル作成装置19と、自己回帰モデル作成装置の多次元自己回帰モデルと計測値蓄積装置の計測値から計測器の予測値を演算する予測値演算装置20と、予測値演算装置で演算した予測値と計測値蓄積装置の計測値とを比較して計測器の異常を検知するようにしている。【効果】 診断対象とする計測値とその計測値に影響を及ぼすデータ群を多次元自己回帰モデルを用いることにより統計的に関連づけることができ、計測器の異常検知の精度が向上する。

請求項（抜粋）：

プラントシステムに設置し、システムの状態を計測する計測器の異常を検知する計測器の異常検知装置において、システムの状態を計測器で計測した計測値を記憶する計測値蓄積装置と、計測値蓄積装置の計測値を用いて多次元自己回帰モデルを作成する自己回帰モデル作成装置と、自己回帰モデル作成装置の多次元自己回帰モデルと計測値蓄積装置の計測値から計測器の予測値を演算する予測値演算装置と、予測値演算装置で演算した予測値と計測値蓄積装置の計測値とを比較して計測器の異常を検知する演算装置を設けたことを特徴とする計測器の異常検知装置。

IPC (2件)：

G05B 23/02 ,  G05B 23/02 302

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭59-049611
  
• 微小放射線漏れ検出装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-178896   出願人：三菱電機株式会社
• 特開昭59-049611