特許

J-GLOBAL ID：200903039333947799

低コヒーレンス干渉法を用いた動的光散乱測定装置

発明者： 岩井 俊昭 ,  石井 勝弘 ,  村井 偉志
出願人/特許権者： 大塚電子株式会社
代理人 (1件)： 亀井 弘勝 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-297600
公開番号（公開出願番号）：特開2003-106979
出願日： 2001年09月27日
公開日（公表日）： 2003年04月09日
要約：

【要約】【課題】低コヒーレンス光源を利用して干渉計を構成することにより、散乱体積を限定でき、もって高濃度の媒質からの散乱光に基づいて、媒質の動的特性を測定することのできる動的光散乱測定装置を実現する。【解決手段】低コヒーレンス光源2と、低コヒーレンス光源2から集光された光を溶液に照射する対物レンズ6と、マイケルソン干渉計を用いて粒子の散乱光強度を測定する光検出器9と、測定された散乱光強度に基づいて,粒子の拡散係数の分布を解析するスペクトラムアナライザ10とを備える。【効果】低コヒーレンス光源2付きの干渉計を用いているので、光源光の光路長とほぼ等しい特定された部位からの散乱光成分のみを検出できる。

請求項（抜粋）：

試料溶液中の粒子の動的光散乱測定をする装置であって、低コヒーレンス光源と、低コヒーレンス光源から集光された光を溶液に照射する手段と、干渉計を用いて粒子の散乱光強度を測定する光強度測定手段と、測定された散乱光強度に基づいて,粒子の拡散係数の分布を解析する解析手段とを備えることを特徴とする低コヒーレンス干渉法を用いた動的光散乱測定装置。

IPC (3件)：

G01N 15/02 ,  G01N 15/04 ,  G01N 21/49

FI (3件)：

G01N 15/02 A ,  G01N 15/04 D ,  G01N 21/49 Z

Fターム (13件)：

2G059AA02 ,  2G059BB06 ,  2G059CC19 ,  2G059DD13 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059GG08 ,  2G059GG10 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK01 ,  2G059LL01

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 光ヘテロダイン計測方法および装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-323345   出願人：株式会社生体光情報研究所
• 特開昭62-058139
  
• 光干渉断層像観測装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-040883   出願人：科学技術振興事業団, 丹野直弘