特許
J-GLOBAL ID:200903039367450125

荷電粒子線照射装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 長谷川 芳樹 ,  寺崎 史朗 ,  黒木 義樹
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-009524
公開番号(公開出願番号):特開2008-173297
出願日: 2007年01月18日
公開日(公表日): 2008年07月31日
要約:
【課題】 所望の部位での照射位置の確認が可能な荷電粒子線照射装置を提供すること。【解決手段】 被照射体51の回りに回転可能とされた荷電粒子線照射部1を有する照射室103を備え、被照射体51にて生成された消滅γ線を検出する検出部30を、荷電粒子線照射部1の回転中心軸Xの延在する方向に移動可能とする。これにより、検出部30をX軸方向に移動させることで、検出部30が荷電粒子線照射部1の回転の妨げになることを防止することができる。また、被照射体の照射室103への搬入、搬出の際に検出部30が邪魔にならない。また、所望の部位の位置確認ができる。また、被照射体の大きさに合わせて検出部30をX軸方向に移動させることもできるので、検出部30による検出範囲の拡大が可能となる。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
荷電粒子線が照射される被照射体の回りに回転可能な荷電粒子線照射部を有する照射室を備えた荷電粒子線照射装置において、 前記被照射体を挟んで両側に配置されて、前記被照射体にて生成された消滅γ線を検出する一対の検出部を備え、 前記荷電粒子線照射部の回転中心軸の延在する方向をX軸方向とし、 前記検出部は、前記X軸方向に移動可能とされていることを特徴とする荷電粒子線照射装置。
IPC (6件):
A61N 5/10 ,  G21K 5/00 ,  G21K 5/04 ,  G01T 1/161 ,  A61N 5/01 ,  A61B 6/00
FI (7件):
A61N5/10 M ,  G21K5/00 R ,  G21K5/04 A ,  G21K5/04 C ,  G01T1/161 A ,  A61N5/01 A ,  A61B6/00 370
Fターム (28件):
2G088EE02 ,  2G088EE29 ,  2G088FF07 ,  2G088JJ22 ,  2G088JJ23 ,  2G088JJ24 ,  2G088KK35 ,  4C082AA01 ,  4C082AC05 ,  4C082AE03 ,  4C082AE10 ,  4C082AG04 ,  4C082AG53 ,  4C082AJ20 ,  4C082AN02 ,  4C082AN05 ,  4C082AP01 ,  4C082AP07 ,  4C082AP12 ,  4C082AR13 ,  4C082AT03 ,  4C082MA01 ,  4C082MJ04 ,  4C082MJ10 ,  4C082PA10 ,  4C082PG14 ,  4C093EA20 ,  4C093EB28
引用特許:
出願人引用 (1件) 審査官引用 (3件)

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