特許
J-GLOBAL ID：200903039384234924

電子的撮像装置

発明者：
橋本 仁史

橋本 仁史 について


出願人/特許権者：
オリンパス光学工業株式会社

オリンパス光学工業株式会社 について


代理人 (1件)： 伊藤 進
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-140212
公開番号（公開出願番号）：特開平11-341342
出願日： 1998年05月21日
公開日（公表日）： 1999年12月10日
要約：
【要約】【課題】 簡単に正確な露光量を得るとともにレリーズ開始から本露光に至るまでの処理時間の短縮を可能にすることにより、優れた速写性を得ることのできる電子的撮像装置を提供する。【解決手段】 フォーカスレンズ等を経てCCDにより撮像された信号は撮像回路,A/D変換器を経てAE(オート露出)処理回路とAF(オートフォーカス)処理回路に入力され、それぞれAE,AF評価値をCPUに出力する。操作SWのレリーズ操作が行われると、CPUは所定のタイミングに基づきCCD内の電子素子シャッタのシャッタ速度を、例えば高速から低速に順次設定してそれぞれの露光を行い、複数の露光検出値を得る。その後CPUはこれらの露光検出値から最適な露光検出値を選択し、選択した露光検出値に基づいてプリ測光用露光を行った後、本露光を行う。これにより、正確な露光量が得られるとともに、レリーズ操作開始から本露光に至るまでの処理時間を短くすることができ、速写性が向上する。
請求項（抜粋）：
撮像レンズにより結像された被写体像を光電変換し映像信号を生成する撮像素子と、シャッターレリーズ信号に応答して、絞り開放のもとに画面ごとに露出値を変化させながら測光を行い複数の測光値を得るための第1の測光手段と、前記第1の測光手段により測光された前記複数の測光値から最適な測光値を選択する選択手段と、前記選択手段によって選択された測光値に基づいて絞り込み測光を行う第2の測光手段と、前記第2の測光手段により測光された測光値に基づいて前記撮像素子の露光量を制御する露光量制御手段と、を具備したことを特徴とする電子的撮像装置。
IPC (3件)：
H04N 5/238 ,  G03B 7/097 ,  H04N 5/335
FI (3件)：
H04N 5/238 Z ,  G03B 7/097 ,  H04N 5/335 Q
引用特許：
審査官引用 (4件)
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