特許

J-GLOBAL ID：200903039389151059

工業用プロセス制御システムにおける診断システムおよび方法

発明者： カヴァクリオグル,カディア. ,  ウェルス,デビッド,エル. ,  ラッティマー,ドナルド,アール. ,  エリュレク,イブァン.
出願人/特許権者： フィッシャー-ローズマウント システムズ, インコーポレイテッド
代理人 (3件)： 田中 香樹 ,  平木 道人 ,  田邉 壽二
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-505445
公開番号（公開出願番号）：特表2008-535123
出願日： 2006年04月04日
公開日（公表日）： 2008年08月28日
要約：

工業用プロセス制御および監視システムの動作を診断するための装置は、プロセス信号に関連した入力を受信するように構成された入力部を含む。第1の統計的パラメータモジュール(100)はプロセス信号の統計的パラメータに関連した第1の統計的パラメータ出力を提供する。フィルタ(104)はプロセス信号のフィルタ値に関連するフィルタ出力(106)を提供する。第2の統計的パラメータモジュール(100)はフィルタ出力(106)の統計的パラメータに関連する第2の統計的パラメータ出力を提供する。診断モジュールは第1及び第2の統計的パラメータに基づいて工業用プロセスの動作を診断する。

請求項（抜粋）：

工業用プロセス制御または監視システムの動作を診断する装置において、 プロセス信号に関連する入力を受信するように構成された入力部と、 プロセス信号の統計的パラメータに関連する第1の統計的パラメータ出力を提供するように構成された第1の統計的パラメータモジュールと、 プロセス信号のフィルタ値に関連するフィルタ出力を提供するフィルタと、 フィルタ出力の統計的パラメータに関連する第2の統計的パラメータ出力を提供するように構成された第2の統計的パラメータモジュールと、 前記第1および第2の統計的パラメータに基づく工業用プロセスの動作を診断するように構成された診断モジュールとからなる診断装置。

IPC (1件)：

G05B 23/02

FI (2件)：

G05B23/02 V ,  G05B23/02 302S

Fターム (5件)：

5H223AA01 ,  5H223BB01 ,  5H223DD03 ,  5H223DD07 ,  5H223EE30

引用特許：

審査官引用 (2件)

• プロセスデータ監視装置および監視方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-194374   出願人：株式会社東芝
• 事象感知のためのプロセスシステム内の装置
  公報種別：公表公報   出願番号：特願平9-534432   出願人：ローズマウントインコーポレイテッド