特許
J-GLOBAL ID：200903039485835236
偏光軸の測定方法および測定装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
長門 侃二
, 山中 純一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-033590
公開番号（公開出願番号）：特開2005-227019
出願日： 2004年02月10日
公開日（公表日）： 2005年08月25日
要約：
【課題】 偏光素子の偏光軸の予め設定した基準軸からの絶対角を簡易に求めることのできる偏光軸の測定方法および測定装置を提供する。【解決手段】 被測定偏光素子と参照用偏光素子とを重ね合わせると共に、これらの各偏光素子を順に透過した光量が最小または最大となるように上記偏光素子の一方をその法線を中心として回動させて初期状態を設定し、次いで前記偏光素子の一方または他方を所定の基準軸を中心として裏返した後、前記偏光素子の一方または他方をその法線を軸として回動させて上記各偏光素子を透過する光量が最小または最大となるときの前記初期状態からの回動変位角θdを検出する。そしてこの回動変位角θdから前記被測定偏光素子の偏光軸の前記基準軸Aからの絶対角θaを求める。【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
被測定偏光素子と参照用偏光素子とを重ね合わせると共に、これらの偏光素子を順に透過した光量が最小または最大となるように上記偏光素子の一方をその法線を軸として回動させて初期状態を設定し、
次いで前記偏光素子の一方または他方を予め設定した基準軸を中心として裏返した後、前記偏光素子の一方または他方をその法線を軸として回動させて上記各偏光素子を順に透過する光量が最小または最大となるときの前記初期状態からの回動変位角を検出し、この回動変位角から前記被測定偏光素子の偏光軸の前記基準軸からの絶対角を求めることを特徴とする偏光軸の測定方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (3件)：
2H049BA02
, 2H049BC01
, 2H049BC23
