特許

J-GLOBAL ID：200903039953528621

粉体の目付測定方法および測定装置

発明者： 鍵谷 浩司 ,  中嶋 博樹
出願人/特許権者： 東レ株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-052447
公開番号（公開出願番号）：特開2007-232472
出願日： 2006年02月28日
公開日（公表日）： 2007年09月13日
要約：

【課題】シート上に散布された紛体の目付分布、目付量を非接触でリアルタイム計測を可能とする、紛体の目付測定方法を提供する。【解決手段】平面基材上に載置された紛体に光を照射し、前記紛体により散乱、回折もしくは反射された光または前記粉体からの蛍光発光の強度を測定し、この測定値と予め作成しておいた検量値と比較することにより粉体の目付を測定することを特徴とする紛体の目付測定方法。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

平面基材上に載置された紛体に光を照射し、前記紛体により散乱、回折もしくは反射された光または前記粉体からの蛍光発光の強度を測定し、この測定値と予め作成しておいた検量値と比較することにより粉体の目付を測定することを特徴とする紛体の目付測定方法。

IPC (4件)：

G01N 21/892 ,  G01N 21/93 ,  G01N 21/84 ,  G01N 21/89

FI (4件)：

G01N21/892 A ,  G01N21/93 ,  G01N21/84 E ,  G01N21/89 K

Fターム (22件)：

2G043AA03 ,  2G043CA06 ,  2G043CA07 ,  2G043EA01 ,  2G043FA01 ,  2G043GA06 ,  2G043GB28 ,  2G043KA01 ,  2G043KA02 ,  2G043KA03 ,  2G043LA03 ,  2G043NA11 ,  2G051AA32 ,  2G051AB20 ,  2G051AC21 ,  2G051BA05 ,  2G051BA06 ,  2G051BB01 ,  2G051CA03 ,  2G051CA06 ,  2G051CB01 ,  2G051CB10

引用特許：

出願人引用 (4件)

• 特開昭61-188326号公報
  
• 特開昭53-096872
  
• 特開平4-360177
  
• 汚染物質量の検査方法およびその検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2004-035574   出願人：株式会社リコー

審査官引用 (3件)

• 特開昭53-096872
  
• 特開平4-360177
  
• 汚染物質量の検査方法およびその検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2004-035574   出願人：株式会社リコー