特許
J-GLOBAL ID：200903040265068135

LCDパネル欠陥検査装置

発明者：
小田 賢治

小田 賢治 について


出願人/特許権者：
日本電気株式会社

日本電気株式会社 について


代理人 (1件)： 京本 直樹 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-317151
公開番号（公開出願番号）：特開平8-178795
出願日： 1994年12月20日
公開日（公表日）： 1996年07月12日
要約：
【要約】【目的】 LCDパネル欠陥検査において、ディジタル画像を用いて、画像入力クロックに同期したパイプライン処理で積和および微分演算により、LCDパネル上の欠陥部分のみを強調する。低コントラストのLCDパネルにおいても1画素単位で欠陥を検出することを可能にする。【構成】 光電変換スキャナ101とA/D変換回路102から得られた画像データは微分演算回路103により欠陥部分のみ強調される微分値を出力する。微分演算回路103は、各画素において中心n(nは奇数)画素の領域の画素値の積算の2倍から中心n画素領域の左隣n画素の領域の画素値の積算と中心n画素領域の右隣n画素の領域の画素値の積算とを引いた値を微分値として出力する。また、微分値と欠陥の閾値との比較を行う欠陥判定回路104と、欠陥を記録する欠陥メモリ105と、欠陥を表示する欠陥表示回路106とを備えている。
請求項（抜粋）：
被検査LCDパネルを光電変換スキャナで走査して読み出した映像信号をディジタル値の画像データに変換するA/D変換回路と、前記画像データから微分値を出力する微分演算回路と、前記微分値と欠陥の閾値との比較を行い二値化された欠陥判定結果を出力する欠陥判定回路と、前記欠陥判定結果を記録する欠陥メモリと、前記欠陥メモリの内容を表示する欠陥表示回路とを含むことを特徴とするLCDパネル欠陥検査装置。
IPC (5件)：
G01M 11/00 ,  G01B 11/30 ,  G02F 1/13 101 ,  G06T 1/00 ,  G09F 9/00 352
引用特許：
審査官引用 (2件)

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