特許
J-GLOBAL ID：200903085468511798
液晶パネル欠陥検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
岡田 和秀
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-284880
公開番号（公開出願番号）：特開平8-145848
出願日： 1994年11月18日
公開日（公表日）： 1996年06月07日
要約：
【要約】【目的】 信頼性の高い表示ムラの検出を能率良く行うことができる液晶パネル欠陥検査装置を提供する。【構成】 液晶パネル点灯装置25を制御して液晶パネル21を全面一様に無地表示する。その液晶パネル21をモノクロカメラ22で撮影して得られた画像データを画像メモリ23bに格納する。画像処理装置23aは画像メモリ23bから1ライン分の1次元輝度データを読み出し、フィルタ20aにより1次微分処理を施し、その結果に基づいて1次元輝度データ中の突起部分を除去し、突起部分が除去された1次元輝度データに対してフィルタ20bにより2次微分処理を施し、その結果を2値化処理して表示ムラを検出する。
請求項（抜粋）：
一様に点灯表示された液晶パネルを撮影する手段と、撮影により得られた画像データを格納する手段と、画像データをスキャンして得られた1次元輝度データに1次微分処理を施す手段と、この1次微分処理の結果に基づいて1次元輝度データ中の突起部分を除去する手段と、突起部分が除去された後の1次元輝度データに2次微分処理を施す手段と、その2次微分処理の結果を2値化処理して表示ムラを検出する手段とを備えたことを特徴とする液晶パネル欠陥検査装置。
IPC (5件)：
G01M 11/00
, G01B 11/30
, G01R 31/00
, G02F 1/13 101
, H01L 21/66
