特許
J-GLOBAL ID：200903040394323737
光ファイバ特性測定装置及び方法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
志賀 正武 (外6名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-201053
公開番号（公開出願番号）：特開2003-014584
出願日： 2001年07月02日
公開日（公表日）： 2003年01月15日
要約：
【要約】【課題】 高空間分解能を保ったまま長い距離に亘って被測定光ファイバの特性を測定することができる光ファイバ特性測定装置及び方法を提供する。【解決手段】 レーザ光を射出する光源10と、レーザ光の一部を強度変調して被測定光ファイバ17の一端からプローブ光L1として入射させる光変調器14と、光源10から射出されたレーザ光の一部の残りをパルス化して被測定光ファイバ17の他端からポンプ光L2として入射させるパルス変調器18と、被測定光ファイバ17の他端から射出される光のうち、被測定光ファイバ17に設定された測定点近傍からの光のみを通過させるタイミング調整器20と、タイミング調整器20を通過した光を検出して、被測定光ファイバ17の特性を測定する光検出器22とを備える。
請求項（抜粋）：
レーザ光を射出する光源と、前記光源から射出されたレーザ光の一部を被測定光ファイバの一端からプローブ光として入射させる入射手段と、前記光源から射出されたレーザ光の一部の残りをパルス化して前記被測定光ファイバの他端からポンプ光として入射させるパルス変調器と、前記被測定光ファイバの他端から射出される光のうち、前記被測定光ファイバに設定された測定点近傍からの光のみを通過させるタイミング調整器と、前記タイミング調整器を通過した光を検出して、前記被測定光ファイバの特性を測定する光検出器とを備えることを特徴とする光ファイバ特性測定装置。
Fターム (2件)：
引用特許：
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (2件)
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