特許
J-GLOBAL ID:200903040424535793

二次電池の劣化検出方法及び容量推測方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 東島 隆治 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-167499
公開番号(公開出願番号):特開平11-014717
出願日: 1997年06月24日
公開日(公表日): 1999年01月22日
要約:
【要約】【課題】 充放電サイクルを繰り返した二次電池の劣化の様子を統一的、かつ定量的に検出する方法を提供する。【解決手段】 被検二次電池に所定電流を所定時間印加したときの電圧を測定し、電池の初期電圧からの降下(または上昇)分を計算し、その値をV=ai2+bi+c(V:電圧降下分、i:印加電流)で表される二次関数でフィッティングし、これにより得られたaにより被検二次電池の劣化度を定量的に表す。このパラメータaを放電容量=k1-ak2(k1、k2は電池固有の定数)に入力計算することで、被検電池の放電容量を推測する。
請求項(抜粋):
被検二次電池に互いに異なる複数の電流をそれぞれ所定時間印加し、このとき測定された前記二次電池の電圧値を所定の計算式に入力演算処理して数値パラメータを算出し、この数値パラメータにより前記二次電池の劣化の度合いを定量的に判別することを特徴とする二次電池の劣化検出方法。
IPC (3件):
G01R 31/36 ,  H01M 10/48 ,  H02J 7/00
FI (3件):
G01R 31/36 A ,  H01M 10/48 P ,  H02J 7/00 X
引用特許:
出願人引用 (2件) 審査官引用 (2件)

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