特許
J-GLOBAL ID:200903040454732852
走査型レーザ顕微鏡装置およびその制御方法ならびに制御プログラム
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (2件):
上田 邦生
, 藤田 考晴
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-143900
公開番号(公開出願番号):特開2007-011300
出願日: 2006年05月24日
公開日(公表日): 2007年01月18日
要約:
【課題】顕微鏡装置に対する各制御項目毎の制御内容を迅速かつ正確に設定することができること。【解決手段】制御項目および時間軸の一方を縦軸方向、他方を横軸方向に表示し、制御項目ごとの制御内容を時間軸に沿って設定させるGUI部200と、該GUI部200を用いて設定された制御内容に従って、レーザ光を標本に照射し、標本の輝度情報を取得するよう制御する顕微鏡装置制御部202とを備え、顕微鏡装置制御部202が、GUI部200により設定された制御内容のうち、事前に処理時間を見積ることが困難な制御項目に対応する制御内容に対して、当該制御内容の処理の終了時に同期して次の制御内容の処理を開始させるよう制御する走査型レーザ顕微鏡装置1を提供する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
制御項目および時間軸の一方を縦軸方向、他方を横軸方向に表示し、前記制御項目ごとの制御内容を前記時間軸に沿って設定させるGUIと、
該GUIを用いて設定された制御内容に従って、レーザ光を標本に照射し、標本の輝度情報を取得するよう制御する制御部と
を備え、
前記制御部が、前記GUIにより設定された制御内容のうち、事前に処理時間を見積ることが困難な制御項目に対応する制御内容に対して、当該制御内容の処理の終了時に同期して次の制御内容の処理を開始させるよう制御する走査型レーザ顕微鏡装置。
IPC (1件):
FI (1件):
Fターム (4件):
2H052AA07
, 2H052AC34
, 2H052AF14
, 2H052AF21
引用特許: