特許
J-GLOBAL ID：200903040462605185

計測用内視鏡装置

発明者：
小川 清富

小川 清富 について


出願人/特許権者：
オリンパス株式会社

オリンパス株式会社 について


代理人 (1件)： 伊藤 進
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-192448
公開番号（公開出願番号）：特開2004-033367
出願日： 2002年07月01日
公開日（公表日）： 2004年02月05日
要約：
【課題】被検査体のエッジ部に生じた欠損部の面積の計測を精度良く行える計測用内視鏡装置を提供すること。【解決手段】計測用内視鏡装置1は、電子内視鏡2と、複数種類の光学アダプタ7a,7b,7cと、撮像信号を受け映像信号を生成するCCU9、画像信号を元に計測処理を行う計測処理部18aを有するCCU18を備えた制御ユニット10と、画像を表示するLCD5とを具備している。そして、計測処理部18aに設けた被検査体のエッジ部の欠損部の面積を計測するエッジ部欠損計測部18bを、欠損前のエッジ周辺の側面に対応する第1基準線を設定する第1基準線設定部18cと、欠損前のエッジ周辺の上面に対応して第1基準線設定部18cによって指定された第1基準線に一点で交叉する第1基準面を設定する第1基準面設定部18dと、欠損したエッジ部の欠損輪郭線を形成する輪郭線設定部18eと、欠損輪郭線、第1基準線及び第1基準面で囲まれる領域の面積を算出する演算部18fとで構成している。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
挿入部の先端部に観察のための撮像部を有する電子内視鏡と、この電子内視鏡の先端部に着脱自在でそれぞれ所定の観察光学系を備えた複数種類の光学アダプタと、前記電子内視鏡と接続され、前記撮像部からの撮像信号を受け映像信号を生成する画像処理部、この画像処理部で生成された画像信号を元に計測処理を行う計測処理部を有する制御部等を備えた制御装置と、この制御装置の前記制御部の指示に基づいて出力される映像信号を受けてその画像を表示する表示装置とを具備する計測用内視鏡装置において、 前記制御部の計測処理部に、被検査体のエッジ部の欠損部の面積を計測するエッジ部欠損計測手段を設け、このエッジ部欠損計測手段を、 欠損したエッジ部の欠損前のエッジ周辺の側面に対応する第1基準線を設定する第1基準線指定手段と、 欠損したエッジ部の欠損前のエッジ周辺の上面に対応して、前記第1基準線指定手段によって指定される第1基準線に一点で交叉する第1基準面を設定する第1基準面指定手段と、 欠損したエッジ部の任意の点を指定して欠損輪郭線を形成する輪郭指定手段と、 前記輪郭指定手段によって指定された欠損輪郭線を前記第1基準線に対して平行に、且つ前記第1基準面まで移動させて形成される、欠損輪郭線、第1基準線及び第1基準面で囲まれる領域の面積を算出する演算手段と、 で構成したことを特徴とする計測用内視鏡装置。
IPC (7件)：
A61B1/00 ,  G01B11/28 ,  G01N21/954 ,  G02B23/24 ,  G06T1/00 ,  G06T7/60 ,  H04N7/18
FI (9件)：
A61B1/00 300D ,  A61B1/00 300Y ,  G01B11/28 Z ,  G01N21/954 Z ,  G02B23/24 B ,  G06T1/00 300 ,  G06T7/60 150J ,  H04N7/18 C ,  H04N7/18 M
Fターム (68件)：
2F065AA51 ,  2F065AA58 ,  2F065BB05 ,  2F065CC08 ,  2F065DD04 ,  2F065FF04 ,  2F065FF05 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ28 ,  2F065QQ31 ,  2G051AA83 ,  2G051AA88 ,  2G051AB03 ,  2G051CA04 ,  2G051CC01 ,  2G051EA12 ,  2G051EA14 ,  2G051ED21 ,  2G051ED22 ,  2H040GA02 ,  2H040GA10 ,  2H040GA11 ,  4C061AA00 ,  4C061AA29 ,  4C061CC06 ,  4C061DD03 ,  4C061FF12 ,  4C061FF40 ,  4C061HH51 ,  4C061LL02 ,  4C061NN05 ,  4C061SS21 ,  4C061WW01 ,  5B057AA01 ,  5B057BA02 ,  5B057BA24 ,  5B057DA01 ,  5B057DB02 ,  5B057DC03 ,  5B057DC04 ,  5B057DC05 ,  5B057DC08 ,  5B057DC16 ,  5C054AA01 ,  5C054CA04 ,  5C054CC07 ,  5C054EA01 ,  5C054EA05 ,  5C054EA07 ,  5C054ED07 ,  5C054FC03 ,  5C054FC14 ,  5C054FC15 ,  5C054HA05 ,  5L096BA03 ,  5L096CA14 ,  5L096CA24 ,  5L096EA27 ,  5L096FA06 ,  5L096FA09 ,  5L096FA10 ,  5L096FA59 ,  5L096FA64 ,  5L096FA67 ,  5L096FA69
引用特許：
出願人引用 (5件)
  • 計測内視鏡装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-101122   出願人：オリンパス光学工業株式会社
  • 形状検査方法
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-195949   出願人：松下電工株式会社
  • 特開平4-218708
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審査官引用 (5件)
  • 計測内視鏡装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-101122   出願人：オリンパス光学工業株式会社
  • 形状検査方法
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-195949   出願人：松下電工株式会社
  • 特開平4-218708
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