特許
J-GLOBAL ID:200903040510111866
撮像装置および撮像方法
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
永井 冬紀
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-264557
公開番号(公開出願番号):特開2009-094881
出願日: 2007年10月10日
公開日(公表日): 2009年04月30日
要約:
【課題】劣化の少ない画像を得る。【解決手段】光学系による像を受光して画素信号を出力する撮像画素310を二次元に配列するとともに、撮像画素310の配列中に撮像画素とは異なる非撮像画素313,314を配列した撮像素子212と、非撮像画素313,314の周辺に配置された撮像画素310の画素信号に基づいて、画素信号の連続性がある方向を検出する連続性検出手段と、非撮像画素313,314の周辺に配置された撮像画素310の画素出力を連続性がある方向に応じて処理することによって、非撮像画素313,314の位置における画素信号を求める演算手段とを備える。【選択図】図3
請求項(抜粋):
光学系による像を受光して画素信号を出力する撮像画素を二次元に配列するとともに、前記撮像画素の配列中に前記撮像画素とは異なる非撮像画素を配列した撮像素子と、
前記非撮像画素の周辺に配置された前記撮像画素の前記画素信号に基づいて、前記画素信号の連続性がある方向を検出する連続性検出手段と、
前記非撮像画素の周辺に配置された前記撮像画素の前記画素出力を前記連続性がある方向に応じて処理することによって、前記非撮像画素の位置における画素信号を求める演算手段とを備えることを特徴とする撮像装置。
IPC (4件):
H04N 5/335
, H04N 9/07
, G02B 7/34
, G03B 13/36
FI (4件):
H04N5/335 Z
, H04N9/07 A
, G02B7/11 C
, G03B3/00 A
Fターム (27件):
2H011BA23
, 2H011BB02
, 2H011BB04
, 2H051BA06
, 2H051BA18
, 2H051CB21
, 2H051DA07
, 5C024CX03
, 5C024CX11
, 5C024CY17
, 5C024CY27
, 5C024CY37
, 5C024DX01
, 5C024EX42
, 5C024EX43
, 5C024EX52
, 5C024GX21
, 5C024HX14
, 5C024HX21
, 5C065BB11
, 5C065BB13
, 5C065BB22
, 5C065CC01
, 5C065EE03
, 5C065EE06
, 5C065EE10
, 5C065GG17
引用特許:
出願人引用 (3件)
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撮像装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-112189
出願人:オリンパス光学工業株式会社
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画素欠陥補正装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2004-369737
出願人:イーストマンコダックカンパニー
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撮像装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2007-238948
出願人:キヤノン株式会社
審査官引用 (2件)
-
画素欠陥補正装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2004-369737
出願人:イーストマンコダックカンパニー
-
撮像装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2007-238948
出願人:キヤノン株式会社
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