特許
J-GLOBAL ID:200903006008509178

画素欠陥補正装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 吉田 研二 ,  石田 純
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-369737
公開番号(公開出願番号):特開2006-180099
出願日: 2004年12月21日
公開日(公表日): 2006年07月06日
要約:
【課題】デジタルカメラの撮像素子欠陥により生じた撮影画像の点欠陥や線欠陥を補間する。【解決手段】デジタルカメラの欠陥補正回路76は、撮影画像の点キズや縦線キズ、横線キズを同時並行して補正する。点キズと縦線キズとが隣接して存在することを考慮し、欠陥補正回路76は補正すべき注目画素の周囲の画素を用いた所定の差分演算を実行し、差分演算値の大小比較に応じて補間パターンを決定する。また、欠陥補正回路76は点キズと線キズの隣接パターンに応じて予め用意された補間パターンから選択して補間する。隣接パターンは欠陥デコード回路78で検出する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
水平方向及び垂直方向に配列した画素の点欠陥及び線欠陥を補正する画素欠陥補正回路であって、 点欠陥及び線欠陥の存在及びその位置を検出する手段と、 点欠陥画素に隣接する周囲画素の画素値から前記点欠陥画素の画素値を演算することで点欠陥画素を補正する手段と、 線欠陥画素内の補正すべき注目画素に対し、隣接する右上画素及び左下画素の画素値の第1差分値、隣接する左上画素及び右下画素の画素値の第2差分値、左上画素及び左下画素の画素値の和と右上画素及び右下画素の画素値の和の第3差分値、左上画素及び右上画素の画素値の和と左下画素と右下画素の画素値の和の第4差分値をそれぞれ演算する手段と、 第1差分値、第2差分値、第3差分値、及び第4差分値の大小関係に応じた補正パターンで右上画素、右下画素、左上画素、左下画素の少なくともいずれかの画素値から前記注目画素の画素値を演算することで線欠陥画素を補正する手段と、 を有することを特徴とする画素欠陥補正回路。
IPC (1件):
H04N 5/335
FI (1件):
H04N5/335 P
Fターム (7件):
5C024CX22 ,  5C024CX23 ,  5C024DX01 ,  5C024EX52 ,  5C024GY01 ,  5C024HX14 ,  5C024HX29
引用特許:
出願人引用 (7件)
全件表示
審査官引用 (5件)
全件表示

前のページに戻る