特許

J-GLOBAL ID：200903040688970498

位相差検出装置及びこれを備える半導体装置

発明者： 宇都 佳之
出願人/特許権者： 日本電気アイシーマイコンシステム株式会社
代理人 (1件)： 稲垣 清
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-141830
公開番号（公開出願番号）：特開平10-336024
出願日： 1997年05月30日
公開日（公表日）： 1998年12月18日
要約：

【要約】【課題】 PLL回路のジッタ量の測定に好適な位相差検出装置、及び、ジッタ量の測定を簡易に行なうことが出来るPLL回路を備える半導体装置を提供する。【解決手段】 位相差検出回路は、第1の信号と第2の信号の位相差を検出する装置であって、第1の信号(101又は103)を入力とし所定時間の遅延を与える第1の遅延回路(18又は16)と、第2の信号(103又は101)をラッチ信号として第1の遅延回路(18又は16)の出力をラッチする第1のラッチ回路(19又は17)と、ラッチ回路(19又は17)の出力を判定する判定回路とを備えている。

請求項（抜粋）：

第1の信号と第2の信号の位相差を検出する装置であって、第1の信号を入力とし所定時間の遅延を与える第1の遅延回路と、第2の信号をラッチ信号として前記第1の遅延回路の出力をラッチする第1のラッチ回路と、前記ラッチ回路の出力を判定する判定回路とを備えることを特徴とする位相差検出装置。

IPC (4件)：

H03L 7/095 ,  G01R 25/00 ,  H03D 13/00 ,  H03K 5/26

FI (4件)：

H03L 7/08 B ,  G01R 25/00 ,  H03D 13/00 A ,  H03K 5/26 P

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 同期外れ検出回路
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-327939   出願人：富士通株式会社
• 特開昭64-061119