特許
J-GLOBAL ID：200903040966735365
電磁波発生源探査装置およびその探査方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-107307
公開番号（公開出願番号）：特開平11-304858
出願日： 1998年04月17日
公開日（公表日）： 1999年11月05日
要約：
【要約】【課題】本発明の目的は、検査時間の短縮が可能な全く新規な電磁波発生源探査装置及びその方法を提供することにある。【解決手段】本発明は、上記目的を達成するために、被測定対象物から発生される磁界-時間特性を複数の位置で測定し、該測定した複数の磁界-時間特性を用いて該被測定対象物から発生される電界-周波数特性を算出し、該算出した電界-周波数特性において所定の電界値を超える周波数成分を抽出し、該抽出した周波数成分を有する電流が該被測定対象物内で存在する位置を出力するものである。
請求項（抜粋）：
被測定対象物から発生される磁界-時間特性を複数の位置で測定し、該測定した複数の磁界-時間特性を用いて該被測定対象物から発生される電界-周波数特性を算出し、該算出した電界-周波数特性において所定の電界値を超える周波数成分を抽出し、該抽出した周波数成分を有する電流が該被測定対象物内で存在する位置を出力することを特徴とする電磁波発生源探査方法。
引用特許：
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