特許

J-GLOBAL ID：200903040991524743

変位測定器

発明者： 坪井 雅士
出願人/特許権者： 株式会社ミツトヨ
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-276504
公開番号（公開出願番号）：特開2000-088562
出願日： 1998年09月11日
公開日（公表日）： 2000年03月31日
要約：

【要約】【課題】 機能および性能を柔軟に変えることができる【解決手段】カウンタ2を構成する検出器入力手段21n と、計数処理手段23m と、それぞれの前記検出器入力手段21n を計数処理手段23m へ入力するため分配手段22p とを有する。

請求項（抜粋）：

n個の検出器入力手段と、m個の計数処理手段と、それぞれの前記検出器入力手段を前記のm個の計数処理手段へ入力するためのp個の分配手段を有し、n,m,pは正の整数であることを特徴とする変位測定器。

IPC (2件)：

G01B 21/02 ,  G01D 5/245 102

FI (2件)：

G01B 21/02 Z ,  G01D 5/245 102 Z

Fターム (18件)：

2F069AA02 ,  2F069AA06 ,  2F069AA46 ,  2F069DD15 ,  2F069DD30 ,  2F069GG06 ,  2F069GG58 ,  2F069GG72 ,  2F069HH14 ,  2F069NN00 ,  2F069NN08 ,  2F069QQ02 ,  2F069QQ05 ,  2F069QQ12 ,  2F077AA31 ,  2F077AA39 ,  2F077NN27 ,  2F077TT71

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開平4-157316
  
• 形状測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-189462   出願人：株式会社ニコン
• 特開昭58-019503