特許

J-GLOBAL ID：200903041158658686

自動分析装置

発明者： 世宮 俊輔
出願人/特許権者： オリンパス株式会社
代理人 (1件)： 酒井 宏明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-050701
公開番号（公開出願番号）：特開2009-210275
出願日： 2008年02月29日
公開日（公表日）： 2009年09月17日
要約：

【課題】反応容器に傷または汚れが生じた場合であっても精度の高い吸光度測定を行うことができる自動分析装置を提供すること。【解決手段】反応容器21の混合液内を透過する測定光L1および測定光L2が同一の光学的条件となり、かつ反応容器21の異なる側壁を透過する測定光L1および測定光L2を照射し、各測定光に対する2つの吸光度を測定する第1測光部70-1および第2測光部70-2と、第1測光部70-1および第2測光部70-2による2つの吸光度の測定を制御する複数測定制御部111と、第1測光部70-1および第2測光部70-2が測定した2つの吸光度のうち基準吸光度未満の1つの吸光度を分析に用いる吸光度として決定する測定値決定部112と、を備える。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

試薬と試料との混合液を収容した反応容器に測定光を照射することによって吸光度を測定し、前記試料を分析する自動分析装置において、 前記反応容器の混合液内を透過する測定光が同一の光学的条件となり、かつ前記反応容器の異なる側壁を透過する複数の測定光を照射し、各測定光に対する複数の吸光度を測定する測定手段と、 前記測定手段が測定した複数の吸光度のうち所定値未満の1つの吸光度を分析に用いる吸光度として決定する決定手段と、 を備えたことを特徴とする自動分析装置。

IPC (5件)：

G01N 21/59 ,  G01N 35/00 ,  G01N 21/78 ,  G01N 21/01 ,  G01N 21/15

FI (6件)：

G01N21/59 Z ,  G01N35/00 E ,  G01N35/00 A ,  G01N21/78 Z ,  G01N21/01 Z ,  G01N21/15

Fターム (46件)：

2G054AA02 ,  2G054AA07 ,  2G054AB02 ,  2G054BB05 ,  2G054BB10 ,  2G054CA25 ,  2G054CE01 ,  2G054EA04 ,  2G054FA06 ,  2G054FA22 ,  2G054FA44 ,  2G054JA04 ,  2G054JA05 ,  2G057AA01 ,  2G057AB01 ,  2G057AC01 ,  2G057BA01 ,  2G057BC10 ,  2G058CB09 ,  2G058CB15 ,  2G058CD04 ,  2G058CE08 ,  2G058EA02 ,  2G058EA04 ,  2G058ED03 ,  2G058FA02 ,  2G058FB03 ,  2G058FB12 ,  2G058GA03 ,  2G058GA08 ,  2G058GD07 ,  2G058GE02 ,  2G058GE04 ,  2G059AA01 ,  2G059BB12 ,  2G059DD12 ,  2G059DD13 ,  2G059EE01 ,  2G059FF11 ,  2G059FF12 ,  2G059JJ23 ,  2G059MM01 ,  2G059MM10 ,  2G059PP02 ,  2G059PP04 ,  2G059PP06

引用特許：

出願人引用 (1件)

• キュベット補正方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-071517   出願人：オリンパス光学工業株式会社