特許

J-GLOBAL ID：200903041169176942

電池の残存容量演算装置

発明者： 小林 徹也
出願人/特許権者： 株式会社デンソー
代理人 (1件)： 大川 宏
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-313644
公開番号（公開出願番号）：特開2000-147075
出願日： 1998年11月04日
公開日（公表日）： 2000年05月26日
要約：

【要約】【課題】演算誤差がすくない電池の残存容量演算装置を提供すること。【解決手段】電池の開放電圧特性と内部抵抗特性とから基準放電電力値における放電電圧と放電量との関係を示す放電特性マップを形成し(S26)、この放電特性マップを積算して残存容量を求める(S28)。これにより、メモリ効果による残存容量低下と電池劣化による残存容量低下とを分別して残存容量を求めることができるので、正確に電池の残存容量を推定することができる。

請求項（抜粋）：

充放電可能な電池の放電電圧及び放電電流を検出する検出手段、前記放電電流Aに基づいて放電量の今回値を算出する放電量算出手段、前記放電電圧及び放電電流に基づいて電池の内部抵抗の今回値及び開放電圧の今回値を算出する開放電圧算出手段、前記電池の内部抵抗と放電量との過去の関係を示す内部抵抗特性、及び、前記電池の開放電圧と放電量との過去の関係を示す開放電圧特性を記憶する放電特性記憶手段、前記内部抵抗の今回値及び開放電圧の今回値並びに前記内部抵抗特性及び開放電圧特性に基づいて残存容量を演算する残存容量演算手段、を備えることを特徴とする電池の残存容量演算装置。

IPC (5件)：

G01R 31/36 ,  B60L 11/18 ,  G05F 1/67 ,  H01M 10/48 ,  H02J 7/00

FI (5件)：

G01R 31/36 A ,  B60L 11/18 A ,  G05F 1/67 Z ,  H01M 10/48 P ,  H02J 7/00 M

Fターム (40件)：

2G016CA03 ,  2G016CB06 ,  2G016CB11 ,  2G016CB12 ,  2G016CB13 ,  2G016CB21 ,  2G016CB22 ,  2G016CC01 ,  2G016CC03 ,  2G016CC04 ,  2G016CC27 ,  5G003CA01 ,  5G003CA11 ,  5G003CB01 ,  5G003CB07 ,  5G003EA05 ,  5G003EA09 ,  5G003GC04 ,  5G003GC05 ,  5H030AA08 ,  5H030AS08 ,  5H030FF42 ,  5H030FF44 ,  5H115PA14 ,  5H115PG04 ,  5H115PI16 ,  5H115PU21 ,  5H115QN03 ,  5H115TI02 ,  5H115TI05 ,  5H115TI06 ,  5H115TO05 ,  5H420CC03 ,  5H420DD03 ,  5H420EB26 ,  5H420EB39 ,  5H420FF04 ,  5H420FF14 ,  5H420FF22 ,  5H420LL10

引用特許：

審査官引用 (2件)

• バッテリ残存容量検出装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-215554   出願人：三菱電機株式会社
• 電池残量推定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-256752   出願人：株式会社三岡電機製作所