特許
J-GLOBAL ID:200903041237199492

不揮発性メモリシステムにおける最低頻度消去ブロックの追跡

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (6件): 社本 一夫 ,  増井 忠弐 ,  小林 泰 ,  千葉 昭男 ,  富田 博行 ,  秋元 芳雄
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-548318
公開番号(公開出願番号):特表2006-504199
出願日: 2003年09月10日
公開日(公表日): 2006年02月02日
要約:
不揮発性メモリシステムにおいて摩耗一様化を実施する方法および装置が開示される。本発明の一態様によれば、メモリシステムの不揮発性メモリに含まれる要素を処理する1つの方法が、要素に関連付けられた消去カウントを得ることと、いくつかの要素を第1セットにグループ分けすることとを含む。各要素は、要素が消去された回数を実質的に示す関連付けられた消去カウントを有する。その数の要素を第1セットにグループ分けすることは、複数の要素に関連付けられた消去カウントの最低の関連付けられた消去カウントを有する複数の要素に含まれる要素を選択することを含む。方法は、第1セットに関連付けられた消去カウントを実質的に表内にあるメモリ構成要素に記憶することをも含む。
請求項(抜粋):
メモリシステムの不揮発性メモリに含まれる要素を処理する方法であって、前記方法が、 複数の要素に関連付けられた消去カウントを得て、前記複数の要素に含まれる各要素が、関連付けられた消去カウントを有し、各要素の前記関連付けられた消去カウントが、前記要素が消去された回数を示すように構成されるステップと、 前記複数の要素に含まれるいくつかの要素を第1セットにグループ分けし、前記いくつかの要素を前記第1セットにグループ分けするステップが、前記複数の消去要素に関連付けられた前記消去カウントの前記最低の関連付けられた消去カウントを有する前記複数の消去要素に含まれる消去要素を選択するステップを含むステップと、 前記第1セットに関連付けられた前記消去カウントを、実質的に表内にあるメモリ構成要素に記憶し、前記メモリ要素が、前記メモリシステムに関連付けられるステップとを含む、方法。
IPC (2件):
G06F 12/16 ,  G06F 12/00
FI (2件):
G06F12/16 310A ,  G06F12/00 542K
Fターム (4件):
5B018HA23 ,  5B018MA23 ,  5B018NA06 ,  5B082CA13
引用特許:
審査官引用 (1件)

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