特許
J-GLOBAL ID：200903041269803049
エアマイクロメータ用測定子
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
三好 千明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-040687
公開番号（公開出願番号）：特開2005-233697
出願日： 2004年02月18日
公開日（公表日）： 2005年09月02日
要約：
【課題】 低コスト化を図りつつ、リードタイムを抑えることができるエアマイクロメータ用測定子を提供する。【解決手段】 測定子1を、ネジ部11と、ネジ部11から延出した首部12と、首部12より延出した測定ヘッド13により構成する。測定ヘッド13にエア逃げ溝14を形成し、その先端部に凹部15を形成する。凹部15内にノズル16を突設する。エアマイクロメータから供給されたエアーをノズル16の小孔21から測定箇所に噴出できるように構成する。測定ヘッド13周面にショットを高速噴射してショットピーニング処理を施し、測定ヘッド13表面31及びノズル16端面32に緻密な硬化層を形成する。硬化層に二硫化モリブデンの微粒子を高速噴射して固体潤滑被膜を形成する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
測定箇所へ流体を噴出するノズルがヘッドに設けられたエアマイクロメータ用測定子において、
前記ヘッド表面及び/又は前記ノズル端面に、ショットピーニング処理を施して硬化層を形成したことを特徴とするエアマイクロメータ用測定子。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (7件)：
2F066AA23
, 2F066BB03
, 2F066DD12
, 2F066FF07
, 2F066FF09
, 2F066HH13
, 2F066MM19
